本发明涉及纳米压印领域，尤其公开了一种晶圆片用辊压型纳米压印装置，包括机箱，所述机箱顶部设置有传动机构，所述传动机构包括固定安装在机箱顶部的行轨，所述机箱顶部一侧设置的第一伺服电机，所述第一伺服电机输出端连接有第一丝杆，所述第一丝杆的另...

本发明公开了基于无引脚封装芯片的自动化封装系统，包括封装芯片图像获取端、图像处理端和中心信息分析端，本发明涉及芯片自动化封装技术领域，解决了针对存在的缺陷没有进行很好的定位分析，同时针对芯片存在的缺陷没有进行功能影响分析，会造成生产浪费...

本发明公开了一种具有自动矫正结构的芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，包括底座以及固定在底座上表面的安装架，所述安装架上安装有两条传送带，两条所述传送带上沿长度方向设置有多个送料机构，所述底座上安装有L字形的第一支架和第二支架，所述第一...

本发明公开了基于微流控芯片的故障检测识别方法，本发明涉及故障检测技术领域，解决了原始的故障检测方式较为片面，检测结果误差较大的问题，本发明通过对微流控芯片内部透膜进行再次检测时，基于初步的检测过程，调整其微流控芯片的旋转方式，来确定其微...

本发明涉及电子芯片吸取技术领域，用于解决利用现有技术实现电子芯片吸取的过程中，无法实现对大量电子芯片进行输送和位置矫正的问题，具体为一种电子芯片的多工位自动吸取加工装置，包括底座，底座的顶部固定连接有机架，机架的顶部固定连接有支撑板，支...

本发明涉及芯片外观检测领域，用于解决芯片外观检测时标准化操作困难，容易因为人为因素产生误差的问题，具体为基于机器视觉的芯片外观缺陷自动检测系统，包括图像采集单元、对比分析单元、缺陷统计单元、检测效率分析单元和设备预警单元；本发明中，通过...

本发明公开了一种射频芯片测试误差补偿方法，涉及射频芯片测试技术领域，解决了测试设备本身的温度发生变化时，会对射频芯片测试的结果产生影响，导致射频芯片测试结果存在误差的技术问题；通过根据测试设备的设备温度与对应预设标准温度值之间的差值，将...

本发明公开了一种用于流式检测的微流控芯片检测系统，属于生物芯片检测技术领域，该检测系统利用处理后的微流控芯片与输入的液相之间存在温差的性质，通过第二工业摄像头采集对应的微流控芯片的红外热成像图片，在控制变量的前提下，对微流控芯片各处的颜...

本发明公开了一种芯片辅助测试系统及测试方法，本发明涉及芯片测试技术领域，解决了未对芯片内部组件进行测试分析，导致其测试过程中并不全面的问题，本发明通过初步对芯片的引脚进行测试，识别其引脚的电阻是否达标，再基于识别结果，确定正常芯片；随后...

本发明公开了一种基于流先验与极偏补偿的光场图像超分辨处理方法，涉及图像处理技术领域，包括步骤：获取空间和角度分辨率各不相同的光场图像数据集；获取目标中心视图，并通过相同方向子孔径图像的堆叠获取极线约束图像块，以中心视图和各极线约束图像块...

本发明公开了一种基于强化学习的光场图像盲超分辨处理方法与系统，涉及图像处理技术领域，包括步骤：获取低分辨率光场图像以及相对应的高分辨率光场图像，并存入数据集；提取数据集中待超分辨处理光场图像的空间特征以及角度特征；通过模糊内核预测器对待...

本发明涉及一种光场显著性检测方法及其相关设备，涉及计算机视觉技术领域；该方法的一具体实施方式包括：获取光场数据集合；其中，光场数据集合包括全聚焦图像及其对应的焦点堆栈图像；对全聚焦图像进行梯度变换处理生成梯度图像，将梯度图像与噪声标签进...