本发明公开了一种半导体芯片测试分选机，涉及半导体芯片测试技术领域，包括分选机机体，所述分选机机体的顶部设置调节组件和分选组件，所述分选组件包括有基底机构和吸取机构，所述吸取机构设置有多个，所述吸取机构包括有定位架。该半导体芯片测试分选机...