本发明公开了一种芯片集成检测分选设备，包括设备箱，所述设备箱的上端左部固定安装有振动盘入料站，所述设备箱的上端设置有视觉方向判别站，所述设备箱的上端中部设置有驱动电机，所述设备箱上设置有多个均匀分布的旋转定位站，所述设备箱上设置有测试箱...