本发明提供基于数字孪生的集成电路全生命周期良率预测与分析系统，涉及测量电变量下故障预测与健康管理技术领域，本发明通过构建由缺陷传播动力学模型、电‑热耦合物理探测模型以及缺陷表达谱校准引擎构成的协同进化数字孪生闭环系统，实现了对集成电路全...