本发明公开了用于确定CT系统的检测器和检查零件的相对和绝对位置及取向的系统、方法和设备。在一些情况下，该检测器和该检查零件的位置/取向可以至少部分地由相对于基准轴和/或由该基准轴的各种组合限定的平面的倾斜角度来限定。在一些实施方案中，耦...

本发明涉及一种用于通过超声波无损测试火车轮(101)的方法。该方法基于通过在声学上耦合到火车轮(101)的个别可控超声发射换能器(110)的阵列(102)来生成待测试的火车轮(101)中的脉动超声场。为此，超声发射换能器(110)各采用...

用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统包括：测试装置(11)，具有支承(17)、经安装以便在支承(17)上是连续可旋转的转子(18)和设置在转子(18)上的X射线装置(24、25)；包围测试装置(11)...

本发明涉及借助于超声波的用于具有逐段改变的直径的旋转对称加工件(1)的近表面无损检查的方法和装置。方法和装置基于超声测试脉冲以所定义声透射角θ到所述加工件(1)中的声穿透以及来自加工件(1)的超声回波信号的后续记录。识别和评估追溯到加工...

本发明涉及用于无损测试测试对象的体积的方法，在该无损测试过程期间测试对象的体积原始图像100凭借适合的无损成像测试方法来记录。然后，识别体积原始图像的未归因于测试对象材料的那些区域。检查识别的区域是否完全嵌入要与测试对象材料关联的区域中...

本发明涉及借助于无损检查技术、例如超声波的用于具有不同直径的段的旋转对称加工件(1)的无损检查的方法和装置。在该方法的上下文中，表征加工件的材料性质的测试数据集借助于检查技术来生成。从其中生成方位角相关指示值集合Ai。随后，生成加工件(...

本发明涉及一种用于材料试验的X射线试验装置(1)，其包括具有旋转阳极组件(20)的高度聚焦的X射线源(10)，该旋转阳极组件具有以可旋转方式安装的阳极板(22)和配置成使得该阳极板处于旋转运动中的阳极板驱动器(28)。该X射线试验装置还...

一种用于确定x射线检查系统中的平板检测器（12）的几何成像性质的方法包括以下步骤：在x射线源（11）与平板检测器（12）之间布置校准模型（13），其中该校准模型（13）包括至少一个离散几何对象（30）；利用平板检测器（12）记录校准模型...

用于高分辨率X射线设备的微焦点X射线管(11)包括外壳(34)、用于产生电子射束(14)的电子射束源(15)和用于在靶(23)上聚焦电子射束(24)的聚焦透镜(22)。X射线管(11)具有基本上旋转对称的、环形的冷却室(30)，其设计用...

一种用于确定样本（13）的体积表示的计算层析成像方法，包括：初始重建步骤（22），从由X射线系统（10）所取得的样本（13）的X射线投影（21）来重建样本（13）的初始体积数据（23）；确定要更新的所述重建的初始样本体积的一部分的步骤（...

本发明涉及一种利用超声对具有大材料厚度的测试对象进行无损检查的方法和装置。该装置包括具有被分成多个可单独激活的换能器段的超声换能器的超声测试探头，其中该换能器段是同心圆或同心环或其部分。选择换能器段的第一组j(j＝1、2、3...)，该...

本发明涉及一种用于超声波检测系统的进给设备，其具有用于运送测试对象(7)，特别是一管道，到所述超声波检测系统的超声波检测室内的装置，所述进给设备包括至少一个用于测试对象的导向单元(1)，所述导向单元具有至少一个，最好是三个，更好的是具有...

一个用于微焦x射线管的阴极元件，包括由金属丝形成的、可加热的用于热发射电子以形成电子束的灯丝。所述灯丝在电子束的源范围内在垂直于电子束的两个方向上分别具有长形延伸（l1,l2）。

本发明涉及用于超声换能器的多部件式安装装置。本发明涉及一种用于超声换能器(5)的多部件式安装装置(1，2)，其至少包括用于安装在超声测试探头的壳体(8)上的第一部件(1)，以及第二部件(2)，该第二部件(2)固持超声换能器，并且至少与超...

本发明涉及具有超声波检验步骤的超声波检验方法，在所述超声波检验步骤中借助于通过超声波检验头产生的超声波无损伤地检查受检物，其中液态耦合介质在检验头外部连续循环。部分耦合介质被分出来并且输送到超声波检验头和受检物之间的耦合室。该耦合介质循...

本发明涉及一种用于借助ｘ射线辐射对检测对象（１５）进行材料检测的装置，该装置包括ｘ射线装置（２０）和电子控制装置（３８），该ｘ射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象（１５）的ｘ射线源（１２）和设计成行探测器的ｘ射线探测器（１３...

本发明涉及一种用于借助x射线对检测对象(15)进行材料检测的装置(10)，该装置包括一用于自动、顺序地将检测对象(15)送入检测位置或从检测位置送出的平动输送装置(14)以及一x射线装置(20)，所述x射线装置(20)包含一用于透射被保...

本发明名称为“确定样本体积表现的ＣＴ方法和系统、软件及计算设备”。一种用于确定样本（１３）的体积表示的计算层析Ｘ射线摄影方法，包括：使用通过ｘ射线系统（１０）取得的来自样本的ｘ射线投影（２１）的样本的重构体积数据（２３）以及通过来自所述...

一种采用Ｘ射线自动测试和／或测量多个基本相同的元件（１２）的系统（１０），包括具有Ｘ射线装置（２４，２５）的测试／测量装置（１１）、围绕所述测试／测量装置（１１）的保护舱（１５）、向所述测试／测量装置（１１）连续传送入／出元件（１２）的...