本发明公开了一种智能卡芯片厚度测量装置，涉及厚度测量技术领域，包括工作台，所述工作台顶部固定安装有支撑柱，所述工作台表面设置有夹持装置和清理装置，其中，夹持装置包括传动轴、夹板和橡皮垫，所述工作台表面开设有一号滑槽，所述一号滑槽内部转动...

本发明涉及激光芯片性能测试设备技术领域，具体涉及一种激光芯片性能测试机构，包括基板，所述基板的顶部开设有中空槽，中空槽的前端和后端均开设有导移槽，导移槽的顶部开设有安装槽，安装槽的内部旋转连接有限控组件，基板的侧壁固定连接有螺纹电机，螺...