本实用新型公开了一种电子类元器件用测试设备，包括本体，本体的右侧设置有连接线，本体右侧的顶部固定连接有限位块，限位块的底部开设有限位槽，连接线的顶部固定连接有限位杆，限位杆的顶部延伸至限位槽的内腔，限位块的右侧开设有活动槽，活动槽的内腔...