本发明公开了一种用于集成电路直流参数自动化测试的方法和系统，涉及电子元器件测试技术领域。被测芯片通过专用测试夹具连接测试系统主控，测试系统主控内具备可调电压源、可调激励源、可调负载。测试系统通过自动化测试程序控制并改变被测器件电压、激励...

本发明公开了一种用于集成电路开关参数自动化测试的系统及方法，涉及电子元器件测试技术领域，一种用于集成电路开关参数自动化测试的方法步骤包括：步骤一、设置系统硬件连接方法，挑选匹配芯片封装的夹具装芯片，预设置各单元参数，搭建完整测试硬件链路...