本发明涉及一种封闭装置，用于借助于滑块气密地封闭X射线分析设备的样本室的输入开口，滑块能在线性引导件上横向移动到输入开口上方，滑块包括封闭板以及滑座，滑座被构造成，使得滑座能够在线性引导件上被移动到样本室的输入开口上方，线性引导件被布置...

一种用于组装适于在电子成像设备中使用的样本承载架组件(20)的工具(10)，样本承载架组件包括样本架(21)、在分析设备中测量期间容纳样本的物体格栅(22)以及用于将物体格栅可移除地固定到样本架的槽(24)中的C形弹性固定环(23)，所...

本发明涉及一种可调节的分段的准直仪。用于X射线光学系统的准直仪布置结构(10)，包括用于将X射线辐射关于索拉光阑的轴线(z)方向进行准直的索拉光阑，其中，所述索拉光阑具有多个彼此间隔开的片材(11)，所述片材具有彼此平行的片材平面，其特...

本发明涉及一种用于X射线辐射的测量装置(20)，包括：能用X射线(2)照射的样品位置(3)；和用于探测从样品位置(3)发出的X射线辐射的X射线探测器(13)，所述X射线探测器包括至少一个探测器模块(21

本发明概括地提出构造具有多个探测器模块(1、1a

本发明涉及一种光学发射光谱仪，其包括：激发装置；用于光谱分解由激发样品发出的光的色散元件；光电二极管，其设置为能够借助不同光电二极管检测所发出的分解的光的不同的光谱分量；用于光电二极管的读取电子器件，读取电子器件具有电荷存储器组件，其包...

本发明涉及用于X射线散射分析的X射线分析系统。该X射线分析系统包括：X射线源，用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束；至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b)，该孔隙限定射束的横截面的形状；样品，由混合狭缝(5b)成形的射束照射到该样品上；...

公开了用于检测晶片的斜面上的污染物的XRF测量设备。XRF(x射线荧光)测量设备(1)包括：x射线源(2)，用于产生x射线(4)，x射线光学元件(3)，用于将来自x射线源(2)的x射线(4)引导至样品(5)，样品(5)，和EDS(能量色...

公开了一种具有可偏转电子束的X射线设备。一种X射线设备(1)，包括：电子束源(2)，发射电子束(3)；靶(4)，电子束(3)被引导到其上，从而在靶(4)上形成焦斑(5；5a，5b)；X射线光学元件(6)，收集从焦斑(5；5a，5b)发射...