本发明公开了一种射频芯片测试误差补偿方法，涉及电参量测量与射频测量技术领域，本发明提出的射频芯片测试误差补偿方法，通过在测试夹具近端布设温度采集并将温度作为外生输入，配合以等效接触网络为状态量、以按频点的S参数/阻抗为观测量的扩展卡尔曼...