本发明提供一种增强芯片抗电干扰的测试筛选方法及系统，属于集成电路测试技术领域，包括：建立拓扑网络干扰模型，所述模型包括芯片电源引脚、接地引脚和信号引脚的拓扑连接关系，以及根据芯片额定电压范围和干扰距离设置的干扰源参数；构建干扰通路，形成...