本发明提供了一种压延铜箔表面粗化层脱粒程度的检测方法，涉及电子材料检测技术领域，包括以下步骤：施加粘附层于压延铜箔的粗化面；施加预设压力触发弱结合颗粒脱离；剥离转移粘附层至白色基材；通过显色程度量化脱粒严重度；本发明整个检测过程步骤少，...