【技术实现步骤摘要】
显示面板瑕疵的检测方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请涉及计算机视觉领域,具体涉及显示面板瑕疵的检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]为了确保显示面板的质量,在显示面板的生产过程中,往往需要对显示面板进行显示面板瑕疵(Mura)检测,以确定显示面板中是否存在显示面板瑕疵。
[0003]相关技术中,在进行显示面板瑕疵检测时采用的检测方式一般是在黑暗环境下,通过人眼在显示面板显示时对显示面板进行显示面板瑕疵检测,这种检测显示面板瑕疵的方式,不仅仅检测效率较低、检测精准度较低,而且会对人眼造成伤害。因此,如何对显示面板进行显示面板瑕疵检测,成为了亟待解决的技术问题。
[0004]此外,相关技术中的检测显示面板瑕疵的方式,也可能存在上述技术问题。
技术实现思路
[0005]为解决上述一种或多种技术问题,本申请提供了显示面板瑕疵的检测方法、装置、电子设备及存储介质。
[0006]根据本申请的第一方面,提供了一种显示面板瑕疵的检测方法,包括:
[0007]对待检测显示面板对应的目标面板显示图像进行特征提取,获得目标面板显示图像对应的多个第一特征图;多个第一特征图分别对应不同的尺度;
[0008]对多个第一特征图中的目标特征图进行卷积处理,获得第二特征图;目标特征图的尺度大于多个第一特征图中的其他特征图的尺度;
[0009]对其他特征图进行特征融合处理,获得多个第三特征图;多个第三特征图分别对应不同的尺度;
[0010]依据 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板瑕疵的检测方法,其特征在于,包括:对待检测显示面板对应的目标面板显示图像进行特征提取,获得所述目标面板显示图像对应的多个第一特征图;所述多个第一特征图分别对应不同的尺度;对所述多个第一特征图中的目标特征图进行卷积处理,获得第二特征图;所述目标特征图的尺度大于所述多个第一特征图中的其他特征图的尺度;对所述其他特征图进行特征融合处理,获得多个第三特征图;所述多个第三特征图分别对应不同的尺度;依据所述第二特征图以及所述多个第三特征图,对所述目标面板显示图像进行目标检测,确定所述目标面板显示图像中的显示面板瑕疵对应的目标瑕疵位置以及所述显示面板瑕疵对应的目标瑕疵类别。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述第二特征图以及所述多个第三特征图,对所述目标面板显示图像进行目标检测,确定所述目标面板显示图像中的显示面板瑕疵对应的目标瑕疵位置以及所述显示面板瑕疵对应的目标瑕疵类别包括:对所述第二特征图以及所述多个第三特征图进行卷积处理,获得所述第二特征图对应的第四特征图以及所述多个第三特征图分别对应的第四特征图;第四特征图中的特征值用于表示多个设定锚框分别对应的中心点位置、所述多个设定锚框分别对应的尺度、所述多个设定锚框分别对应的置信度以及所述多个设定锚框中的各设定锚框对应的瑕疵类别概率值;依据所述第二特征图对应的第四特征图以及所述多个第三特征图分别对应的第四特征图,确定所述目标瑕疵位置以及所述目标瑕疵类别。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第二特征图对应的第四特征图通过如下步骤获得:获取预先配置的目标通道数;利用卷积核尺寸为3*3的卷积核以及卷积核尺寸为1*1的卷积核对所述第二特征图进行卷积处理,获得所述第二特征图对应的第四特征图;所述第二特征图对应的第四特征图的通道数为所述目标通道数。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述对待检测显示面板对应的目标面板显示图像进行特征提取,获得所述目标面板显示图像对应的多个第一特征图之前,所述方法还包括:将所述目标面板显示图像输入至已训练的检测模型;所述已训练的检测模型包括骨干网络、颈部网路以及头部网络;所述骨干网络用于对所述目标面板显示图像进行特征提取获得所述多个第一特征图;所述颈部网路用于对所述目标特征图进行卷积处理获得所述第二特征图,以及对所述其他特征图进行特征融合处理获得所述多个第三特征图;所述头部网络用于依据所述第二特征图以及所述多个第三特征图,对所述目标面板显示图像进行目标检测,确定所述目标瑕疵位置以及所述目标瑕疵类别。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述已训练的检测模型通过如下步骤训练获得:获取样本目标面板显示图像集合,以及针对所述样本目标面板显示图像集合中的各样本目标面板显示图像对应标注的面板瑕疵位置和瑕疵类别;
依据所述样本目标面板显示图像集合以及对应标注的面板瑕疵位置和瑕疵类别,对待训练的检测模型进行模型训练,获得所述已训练的检测模型。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述对待检测显示面板对应的目标面板显示图像进行特征提取,获得所述目标面板显示图像对应的多个第一特征图之前,所述方法还包括:获取所述待检测显示面板以设定灰阶显示时的初始面板显示图像;对所述初始面板显示图像进行图像预处理,获得所述目标面板显...
【专利技术属性】
技术研发人员:许超凡,
申请(专利权)人:成都京东方光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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