【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于辅助设计微型器件的各种技术和工具。本专利技术的多个方面具体应用在微型器件的设计中,以改进这些微型器件随后的工艺性。
技术介绍
微电路设备应用在从汽车到微波到个人电脑的多种产品中。设计和制造微电路设备涉及多个步骤;被通称为“设计流程”,具体步骤很大程度上取决于微电路的类型、复杂性、设计团队、和微电路制造商或加工工厂。个别步骤通用于全部的设计流程首先,逻辑化地对设计标准进行建模,通常使用硬件描述语言(HDL)。通过运行软件模拟器和/或硬件仿真器(或程序),软件和硬件的“工具”对设计流程中各阶段的设计进行校验,并改正错误。当满足了逻辑设计之后,通过综合软件转入设计数据。该设计数据,通常称为“网表”(netlist),代表了特定的电气设备,例如晶体管、电阻、电容、和它们的相互连接,所述的相互连接将获得所希望的逻辑结果。在这个阶段还可以利用对每个器件假定的特性速率对时序作出初步的估计。该“网表”可以被视为相应于显示在常规电路图中所代表的层级。一旦电路基本元件间的关系被建立,那么再一次对设计进行变换,这次将设计变换为特定的几何元素,该几何元素定义了形成各个元件时会出现的形状。自定义布局图编辑器,例如Mentor Graphics公司的IC Station或者Cadence公司的Virtuoso都是通常用于这个任务的。自动放置和布线工具也可以用于定义实体的(physical)布局图,尤其是用于互相连接逻辑元件的连线。实体设计数据代表了在制造希望的微电路设备时写入到掩模上的图案,通常是通过光刻过程。集成电路的每个层在实体数据库中具有相应的表示层(la ...
【技术保护点】
一种设计微型器件的方法,包括:将对微型器件的设计接收到设计数据库中;接收制造规范;在所述设计数据库中对所述设计进行分析以确认与所述制造规范相关的设计数据;选择将要被显示的经确认的设计数据的至少一部分;显示所选择的经确认的设计数据的该部分;接收所选择的显示设计数据的至少一部分以进行修改;以及根据所述制造规范对所显示的设计数据的选定部分进行修改。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2003-7-18 60/488,363;US 2004-4-19 10/827,9901.一种设计微型器件的方法,包括将对微型器件的设计接收到设计数据库中;接收制造规范;在所述设计数据库中对所述设计进行分析以确认与所述制造规范相关的设计数据;选择将要被显示的经确认的设计数据的至少一部分;显示所选择的经确认的设计数据的该部分;接收所选择的显示设计数据的至少一部分以进行修改;以及根据所述制造规范对所显示的设计数据的选定部分进行修改。2.如权利要求1所述的方法,进一步包括根据统计信息选择将要被显示的设计数据的所述部分。3.如权利要求2所述的方法,其中所述统计信息与设计数据的所述部分的出现频率相关。4.如权利要求3所述的方法,其中所述出现频率是在设计中所述设计数据的所述部分的出现频率。5.如权利要求3所述的方法,其中所述出现频率是在特定结构中所述设计数据的所述部分的出现频率。6.如权利要求2所述的方法,其中所述统计信息与设计数据的该部分的故障频率相关。7.如权利要求1所述的方法,进一步包括根据微型器件设计的分层结构选择将要被显示的经确认的设计数据的所述部分。8.如权利要求7所述的方法,其中,所述设计是以各单元分层地构成的;以及被选定要显示的经确认的设计数据的所述部分相应于某一单元。9.如权利要求1所述的方法,进一步包括根据由经确认的设计数据的所述部分所代表的结构,选择将要被显示的经确认的设计数据的所述部分。10.如权利要求9所述的方法,其中所述结构是由所述设计的用户所选择的。11.如权利要求10所述的方法,其中所述结构是根据在设计中所述结构出现的频率进行选择的。12.如权利要求1所述的方法,进一步包括根据某一结构在微型器件上的位置,选择将要被显示的经确认的设计数据的所述部分,所述结构是由所述经确认的设计数据的所述部分代表的。13.如权利要求1所述的方法,进一步包括接收与所述制造规范相应的成本/收益分析信息;以及根据所接收的成本/收益分析信息选择将要被显示的经确认的设计数据的所述部分。14.如权利要求13所述的方法,进一步包括显示所接收的成本/收益分析信息的至少一部分。15.如权利要求1所述的方法,进一步包括接收与所述制造规范相应的性能分析信息;以及根据所接收的性能分析信息选择将要被显示的经确认的设计数据的所述部分。16.如权利要求15所述的方法,进一步包括显示所接收的性能分析信息的至少一部分。17.如权利要求15所述的方法,其中所述性能分析信息与成品率的改进相关,所述成品率的改进是根据所述制造规范通过修改将要被显示的经确认的设计数据的所述部分而获得的。18.如权利要求15所述的方法,其中所述性能分析信息与微型器件中的时序改进相关,所述时序改进是根据所述制造规范对将要被显示的经确认的设计数据的所述部分进行修改而获得的。19.如权利要求15所述的方法,其中所述性能分析信息与尺寸改进相关,所述尺寸改进是根据所述制造规范对将要被显示的经确认的设计数据的所述部分进行修改而获得的。20.如权利要求1所述的方法,其中所显示的将要被修改的设计数据的所述选定部分是由所述设计的用户进行选择的。21.如权利要求22所述的方法,其中所显示的将要被修改的设计数据的所述选定部分是自动选择的。22.如权利要求1所述的方法,其中所述设计数据代表了微型器件中各元件之间的功能关系。23.如权利要求22所述的方法,其中所述的设计数据包括描述微型器件各元件间电气连接的网表。24.如权利要求1所述的方法,其中所述的设计数据代表了微型器件中各元件间的实体关系。25.如权利要求24所述的方法,其中所述的设计数据包括分割格式,所述分割格式用于光刻构图地创建各多边形结构以形成微型器件。26.如权利要求25所述的方法,其中所述的设计数据包括用以形成微型器件的多边形结构的布局图。27.如权利要求1所述的方法,其中,所述制造规范包括用于测试微型器件的测试参数。28.一种设计微型器件的方法,包括将对微型器件的设计接收到设计数据库中;接收制造规范;在设计数据库中对所述设计进行分析以确定可能的修改,根据所述制造规范,所述可能的修改可以是对所述设计数据的至少一部分进行的;以及提供关于所述可能的修改的反馈。29.如权利要求28所述的方法,其中所述反馈包括对所述可能的修改的至少一部分的描述。30.如权利要求28所述的方法,其中所述反馈描述了共用于整个微型器件的可能的修改。31.如权利要求28所述的方法,其中所述反馈描述了符合至少一个定义的特征的可能的修改。32.如权利要求31所述的方法,其中所述至少一个定义的特征与微型器件的时序操作相关。33.如权利要求31所述的方法,其中所述至少一个定义的特征与微型器件生产的制造成品率相关。34.如权利要求31所述的方法,其中所述至少一个定义的特征与微型器件的性能相关。35.如权利要求31所述的方法,其中所述至少一个定义的特征与微型器件的生产成本相关。36.如权利要求31所述的方法,其中所述至少一个定义的特征与微型器件的可靠性相关。37.如权利要求28所述的方法,进一步包括根据统计信息提供所述反馈。38.如权利要求28所述的方法,进一步包括根据设计的分层结构提供所述反馈。39.如权利要求38所述的方法,其中,所述设计是以各单元分层地构成的;以及所提供的反馈相应于所选择的某个单元。40.如权利要求28所述的方法,进一步包括根据在微型器件上所选择的结构提供所述反馈。41.如权利要求28所述的方法,进一步包括根据在微型器件上所选择的区域提供所述反馈。42.一种设计微型器件的方法,包括将对微型器件的设计接收到设计数据库中;接收制造规范;在设计数据库中对所述设计进行分析以确认与所述制造规范相关的设计数据;定义关连数据,所述关连数据描述了经确认的设计数据和所述设计之间的关连;以及将所述关连数据提供给所述设计的用户。43.如权利要求42所述的方法,其中,所述经确认的设计数据与一个或多个结构相关;以及所述关连数据描述了所述一个或多个结构中的每个在微型器件上的位置。44.如权利要求42所述的方法,其中,所述经确认的...
【专利技术属性】
技术研发人员:约瑟夫D萨茨基,劳伦斯W格罗德,约翰G福格森,桑贾伊达尔,
申请(专利权)人:明导公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
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