简易大功率可控硅测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种简易大功率可控硅测试仪，解决现有可控硅的测试方法对于大功率可控硅不适用的技术问题。技术解决方案为：简易大功率可控硅测试仪，其特征是：普通照明灯与可控硅模块串连在～２２０Ｖ电压上，示波器与普通照明灯并联，用二节电池串上一个小灯泡作为控制极限流电阻，电池的负极与～２２０Ｖ的零线并接，同时串上一个毫安表监视控制极触发电流，毫安表与可控硅模块之间设有单极开关。观察回路上灯泡的亮度也可以初步判断可控硅的好坏。主要用于正、反向重复峰值电压大于５００Ｖ、通态平均电流大于３００Ａ大功率可控硅。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
专利说明 一、
本技术涉及一种可控硅测试装置，特别涉及一种正、反向重复峰值电压大于500V、通态平均电流大于300A大功率可控硅的大功率可控硅测试仪。二
技术介绍
目前测试可控硅品质的方法大体有二种；一是专用的可控硅测试仪，二是根据教科书上介绍的简易可控硅测试法。前者价格太高(要上万元)，一般使用单位不具备，后者通过我们大量的实践，证明用在大功率可控硅测试上是不行的。可控硅由于它的技术成熟性，在电力传动上的应用较广，在日常的维护、保养中很难在外表上判断出它的好坏，如果用专用的可控硅测试仪由于它的体积大重量重，到现场测试极其不便。本技术大功率测试仪不但体积小而重量轻，使用方便，能适应多种场合。三
技术实现思路
本技术的目的是提供一种简易大功率可控硅测试仪，需要解决的技术问题是，用简单的电路、利用现有的仪器、化最少的钱解决大功率可控硅品质的测试。本技术技术方案为一种简易大功率可控硅测试仪，用一只普通照明灯与可控硅模块串联在～220V电压上，用二节电池串上一个小灯泡作为控制极限流电阻，电池的负极与～220V的零线并接，同时串上一个毫安表监视控制极触发电流，小灯泡它的冷态电阻为1.5Ω左右，热态电阻是冷态的几百倍。大功率可控硅控制极和阴极之间的软电阻，一般在8Ω至50Ω之间，控制极触发电流一般在20mA至150mA。通过计算3V/(1.5+(8～50))Ω≈(60～300)mA，完全符合触发可控硅时的控制极电流，且一旦小灯泡中有电流流过，其阻值急剧上升，控制极电流迅速下降。工作时，一般小灯泡不发光或有很微弱的光，所以控制极电流可以长时间的触发，有利仔细地观察主回路在视波器中的波形。本技术的有益效果是由于可控硅的技术成熟，型号为KP型300A～1200A、耐压为1400V～1800V的大功率可控硅模块在传动系统中被广泛使用，并且数量较多。靠书本上介绍的用电池简单测试方法，用在大功率管子上，在实践中显然不行。当电机快速熔断器熔断时，用上述方法测试表面上都是好的(可控硅型号为1800V/1200A)，但是一加控制电压(给定)快速熔断器就熔断。在此情况下，用一只220V/100W的白炽灯与拆下的可控硅模块串联在～220V电压上，用二节电池串上一个3.8V小灯泡作为控制极限流电阻，同时串上一个毫安表监视可控硅控制极触发电流，去触发控制极，在灯泡的两端并上视波器的探头，观察每个模块通电的波形，结果发现其中有一块模块在末加触发时，灯泡已有发红现象，换掉此模块后，一切正常。在检测时要针对有缺波头现象的可控硅模块，这些模块在正常的整流工作时，是可用的；但是，在逆变时往往会造成逆变颠覆，不是快速熔断器熔断就是击穿可控硅。采用本技术可以把品质差的可控硅即时地换掉，把故障消灭在萌芽中，同时也大大地减少了生产停机的时间。四附图说明附图为本技术结构电气原理图图中1-普通照明灯，2-示波器，3-可控硅模块，4-单极开关，5-毫安表，6-小灯泡，7-电池。五具体实施方式参阅附图，用一只220V/(15～1000)W的普通照明灯1与被检测的可控硅模块3串联在～220V电压上，用二节1.5V电池7串上一个3.8V小灯泡6作为控制极限流电阻，电池的负极与～220V的零线并接，同时串上一个毫安表5监视控制极触发电流，毫安表与可控硅模块3之间设有单极开关4，3.8V小灯泡6冷态电阻为1.5Ω左右，热态电阻是冷态的几百倍。大功率可控硅控制极和阴极之间的软电阻，一般在8Ω至50Ω之间，控制极触发电流一般在20mA至150mA。通过计算3V/(1.5+(8～50))Ω≈(60～300)mA，完全符合触发可控硅模块3时的控制极电流，且一旦3.8V小灯泡6中有电流流过，其阻值急剧上升，控制极电流迅速下降。工作时，一般3.8V小灯泡6不发光或有很微弱的光，所以控制极电流可以长时间的触发，有利仔细地观察主回路在视波器2中的波形。该仪器在测试可控硅模块3时会在示波器2上出现下例五种情况；如表一所示。同时观察回路上普通照明灯1的亮度也可以初步判断可控硅模块3的好坏。表一 1、可控硅控制极加入触发电流，示波器显示间断正常整流半波，检测回路中的普通照明灯亮，可控硅模块好；2、可控硅控制极加入触发电流，示波器显示间断缺波头的整流半波，检测回路中的普通照明灯亮微亮，可控硅与散热片之间有较大的接触电阻，可控硅模块坏，须拆卸清洗，可控硅好；3、可控硅控制极加入或不加入触发电流，示波器显示连续正弦波，检测回路中的普通照明灯亮很亮，可控硅击穿；4、可控硅控制极加入触发电流，示波器显示为直线，检测回路中的普通照明灯不亮，可控硅控制极触发电流回路中小灯泡烧毁，可控硅控制极电流较大，可控硅控制极控制极坏，可控硅坏；5、可控硅控制极不加入触发电流，示波器显示间断正常整流半波，检测回路中的普通照明灯亮，可控硅控制极失控，可控硅变为二极管，可控硅坏。权利要求1.简易大功率可控硅测试仪，其特征是普通照明灯与可控硅模块串连在～220V电压上，示波器与普通照明灯并联，用二节电池串上一个小灯泡作为控制极限流电阻，电池的负极与～220V的零线并接，同时串上一个毫安表监视控制极触发电流，毫安表与可控硅模块之间设有单极开关。专利摘要本技术涉及一种简易大功率可控硅测试仪，解决现有可控硅的测试方法对于大功率可控硅不适用的技术问题。技术解决方案为简易大功率可控硅测试仪，其特征是普通照明灯与可控硅模块串连在～220V电压上，示波器与普通照明灯并联，用二节电池串上一个小灯泡作为控制极限流电阻，电池的负极与～220V的零线并接，同时串上一个毫安表监视控制极触发电流，毫安表与可控硅模块之间设有单极开关。观察回路上灯泡的亮度也可以初步判断可控硅的好坏。主要用于正、反向重复峰值电压大于500V、通态平均电流大于300A大功率可控硅。文档编号G01R27/00GK2754106SQ20042011407公开日2006年1月25日 申请日期2004年12月13日 优先权日2004年12月13日专利技术者王阿杨 申请人:宝钢集团上海梅山有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
简易大功率可控硅测试仪，其特征是：普通照明灯与可控硅模块串连在～２２０Ｖ电压上，示波器与普通照明灯并联，用二节电池串上一个小灯泡作为控制极限流电阻，电池的负极与～２２０Ｖ的零线并接，同时串上一个毫安表监视控制极触发电流，毫安表与可控硅模块之间设有单极开关。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王阿杨，
申请(专利权)人：宝钢集团上海梅山有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]