一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法技术

本发明专利技术属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明专利技术提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。

An Accuracy Evaluation Method and Noise Detection Method for Pixel Luminance Extraction of DeMura Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法
本专利技术属于显示面板检测
，更具体地，涉及一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法。
技术介绍
由于显示面板生产工艺复杂，Mura缺陷的出现无法避免，但Mura缺陷会直接影响显示面板的质量以及生产良率，因而Mura缺陷的修复是显示面板生产过程中不可或缺的环节。LCD屏的Mura缺陷尺寸较大，可对Mura区域进行分块亮度补偿；而OLED屏由于其自发光、各个像素点独立驱动等特性，其Mura缺陷表现为子像素量级，需要使用比LCDDeMura更精确的Mura缺陷补偿方法。现有OLEDDeMura(Mura缺陷补偿)包括图像预处理、子像素点亮度提取、子像素点gamma测量、子像素点电压补偿的流程。Mura缺陷的补偿通过补偿子像素点的驱动电压来实现，而驱动电压的补偿值由基于亮度值计算的gamma值决定，因而在OLEDDeMura技术中，精确提取子像素点的亮度至关重要。目前一般通过均方根误差RMSE来判断测量精度，但用RMSE评判OLED屏像素点的亮度提取精度存在以下两点局限：一，未考虑子像素点的空间分布关系；二，需要子像素点的亮度参考值；在OLEDDeMura技术中，测得的亮度值为相对值，在精确校准前无法基于亮度的参考值计算RMSE。因此，需要一种新的方法来判断像素点的亮度提取精度，以适应OLEDDeMura技术的要求。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，其目的在于实现对OLED子像素点的亮度提取精度的量化以及DeMura设备的检测。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，用白噪声亮度理论值与白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度。优选地的，上述DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，具体包括以下步骤：(1)将同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别通过DeMura设备进行Mura修复；(2)获取经过Mura修复得到的两张灰度图的亮度差异值作为所加的白噪声的亮度测量值；(3)计算白噪声亮度的测量值与理论值之间的自相关系数；(4)根据该自相关系数判定DeMura设备的亮度提取精度，自相关系数越大，亮度提取精度越高。优选地，上述DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，当白噪声的测量信号与原始输入信号之间的自相关函数峰值在(0.9，1)，判定子像素点的亮度提取精度满足要求，为实现专利技术的目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种DeMura设备噪声检测方法，用白噪声亮度理论值与白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值与调制传递函数来检测DeMura设备的噪声水平。优选地，上述DeMura设备噪声检测方法，当白噪声的测量信号与原始输入信号相同或成线性关系，且DeMura设备的调制传递函数无变化，调制传递函数的频谱平坦，则判定DeMura设备的成像系统无失真。优选地，上述DeMura设备噪声检测方法，当白噪声亮度的理论值与测量值之间自相关函数的峰值降为0.9以下，且调制传递函数不变，调制传递函数的频谱平坦，则判定DeMura设备的成像系统存在噪声。优选地，上述DeMura设备噪声检测方法，当白噪声亮度的理论值与测量值的自相关函数的峰值降为0.9以下，且DeMura设备的调制传递函数发生变化，调制传递函数的波形不再平坦，判定DeMura设备的成像系统存在失真。优选地，上述DeMura设备噪声检测方法，根据自相关函数的峰值水平来确定噪声的严重程度，具体地：自相关函数的峰值越小，判定噪声越严重。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：本专利技术提供的DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLEDDeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题。本专利技术提供的DeMura设备噪声检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法，填补了该
的空白。另一方面，相比于现有技术中采用色度计来进行亮度、色度等参数的测量、以10×10mm为检测单位的检测精度，采用本专利技术提供的方法，检测区域提升到以一个像素为单位，可大幅提升检测精度。附图说明图1是本专利技术实施例提供的OLEDDeMura设备像素点亮度提取精度评判方法的流程示意图；图2是实施例中测量信号与原始输入信号相同或成线性相关时，自相关函数的分布示意图；图3是实施例中测量信号与原始输入信号相同或成线性相关时，调制传递函数的分布示意图；图4是实施例中加入噪声后DeMura设备的自相关函数的分布示意图；图5是实施例中加入噪声后DeMura设备的调制传递函数的分布示意图；图6是实施例中用低通滤波器模拟成像系统，DeMura设备的自相关函数的分布示意图；图7是用低通滤波器模拟成像系统，DeMura设备的调制传递函数的分布示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。此外，下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。参照图1，实施例提供的DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，对OLEDDeMura设备的亮度提取精度进行量化，具体包括如下步骤：(1)将同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别通过OLEDDeMura设备进行Mura修复；(2)获取经过OLEDDeMura设备进行Mura修复得到的两张灰度图的亮度差异值作为所加的白噪声亮度的测量值；(3)利用自相关函数(ACF)计算白噪声亮度的测量值与理论值之间的自相关系数；(4)根据该自相关系数判断OLEDDeMura设备的亮度提取精度，自相关系数越大，亮度提取精度越高。以下对本专利技术的基本原理进行阐述。自相关函数定义了原始信号与测量信号的相似性，表达式如式(1)：其中，f(x)为原始信号，g(u)为测量信号；自相关系数与功率谱密度是傅里叶变换对，自相关函数的傅里叶变换是功率谱函数，表达式如式(2)：其中，F(f)与G(f)分别为原始信号与测量信号的傅里叶光谱。以白噪声亮度作为原始信号f(x)，原始信号通过DeMura设备后测量得到的白噪声亮度为g(x)，其自相关系数r(x)反映了DeMura设备的亮度提取精度。白噪声亮度f(x)的傅立叶变换F(f)为齐一函数，测量得到的功率谱S(f)＝G(f)。将归一化的G(f)作为De本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，其特征在于，用白噪声亮度理论值与所述白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度。

【技术特征摘要】
1.一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，其特征在于，用白噪声亮度理论值与所述白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度。2.如权利要求1所述的DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，其特征在于，具体包括以下步骤：(1)将同一张灰度图在加白噪声与不加白噪声的情况下分别通过DeMura设备进行Mura修复；(2)获取经过Mura修复得到的两张灰度图的亮度差异值作为所加的白噪声的亮度测量值；(3)计算白噪声亮度的测量值与理论值之间的自相关系数；(4)根据所述自相关系数判定DeMura设备的亮度提取精度，自相关系数越大，判定所述DeMura设备亮度提取精度越高。3.如权利要求1所述的DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，其特征在于，当白噪声的测量信号与所述白噪声原始信号之间的自相关函数峰值在(0.9，1)，判定DeMura设备对子像素点的亮度提取精度满足要求。4.一种DeMura设备噪声检测方法，其特征在于，用白噪声亮度理论值与...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯晓帆，刘璐宁，郑增强，张胜森，马尔威，吴红君，袁捷宇，刘荣华，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42