芯片设计验证方法、装置及芯片测试器制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种芯片设计验证方法、装置及芯片测试器，预先设置报文对比策略库，该报文对比策略库用于预先存储多种类型的报文之报文对比策略；然后在测试过程中，接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文，参考模型模拟待测芯片设计预实现的功能；然后根据待验证报文的类型，从报文比对策略库中获取与该报文类型相匹配的目标报文比对策略，进而根据获取的目标报文对比策略对参考报文和待验证报文进行比对。因此可以适用于报文激励为多种类型报文的测试场景，相对现有验证平台兼容性、通用性更好，测试效率也能得到有效的提高。

Chip design verification method, device and chip tester

The embodiment of the present invention provides a chip design verification method, device and chip tester, which pre-sets a message comparison strategy library for storing various types of message comparison strategies in advance, and then receives the reference message and the message to be verified separately based on the same message incentive in the test process. The test model simulates the pre-implemented function of the chip design. Then, according to the type of message to be verified, the target message matching strategy is obtained from the message matching strategy library, and then the reference message and the message to be verified are compared according to the target message matching strategy. Therefore, it can be applied to test scenarios where message incentives are multiple types of messages. Compatibility and versatility of existing verification platforms are better, and test efficiency can be effectively improved.

【技术实现步骤摘要】
芯片设计验证方法、装置及芯片测试器
本专利技术涉及通信领域，尤其涉及一种芯片设计验证方法、装置及芯片测试器。
技术介绍
逻辑验证是数字芯片前端设计过程中的一个关键步骤，验证平台模拟芯片实际运行环境，并通过测试用例检验芯片功能的正确性。为了提高验证效率，需要有一种自动化的检查机制。一种典型的验证平台架构图如图1所示。总线代理Agent负责生成和接受报文激励。发送侧的总线代理Agent生成报文激励，将报文激励同时送往待测芯片设计DUT(DeviceUnderTest)和参考模型Ref_model。参考模型Ref_model模拟待测芯片设计DUT的功能，对输入进来的报文激励进行处理，将处理完的报文送往计分板Scoreboard。同时待测芯片设计DUT也对输入进来的报文激励进行处理，接收侧的总线代理Agent接收待测芯片设计DUT处理完的报文并将报文送往计分板Scoreboard。记分板Scoreboard对从参考模型Ref_model和待测芯片设计DUT处理的报文进行自动化对比，如果完全相同，则认为待测芯片设计DUT的功能正确；如果不相同，则认为待测芯片设计DUT的功能存在问题。现有图1所示的验证平台架构中的计分板中的报文对比规则很单一，一般只能针对一种固定类型的报文进行对比分析。而对于网络数据类芯片，各种类型的网络报文是最主要的激励，此时图1所示的验证平台由于只能针对单一类型的报文进行分析比对而不能供多种类型报文复用，因此不能满足报文激励为多种类型报文的测试场景。
技术实现思路
本专利技术实施例提供的一种芯片设计验证方法、装置及芯片测试器，主要解决的技术问题是：解决现有验证平台只能针对单一类型的报文进行对比分析，不能满足报文激励为多种类型报文的测试场景的问题。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证方法，包括：接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文，所述参考模型模拟所述待测芯片设计预实现的功能；根据所述待验证报文的类型，从报文比对策略库中获取与所述类型相匹配的目标报文比对策略，所述报文对比策略库用于存储多种类型的报文之报文对比策略；根据获取的目标报文对比策略对所述参考报文和待验证报文进行比对。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证方法，包括：接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文分别按序存入参考报文列表和待测报文列表中，并分别按序分配对应的序列号，所述参考模型模拟所述待测芯片设计预实现的功能；在检测到所述待测报文列表中存入一个新的待验证报文时，将所述待测报文列表中当前的各个待验证报文分别采用所述目标报文对比策略与所述参考报文列表中当前的各参考报文进行比对；当所述待测报文列表中的某一待验证报文和所述参考报文列表中的某一参考报文的对比结果为匹配时，将该对待验证报文和参考报文分别从所述待测报文列表和所述参考报文列表中删除。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证装置，包括：报文接收模块，用于接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文，所述参考模型模拟所述待测芯片设计预实现的功能；报文对比策略库，用于存储多种类型的报文之报文对比策略；策略获取模块，用于根据所述待验证报文的类型，从所述报文比对策略库中获取与所述报文类型相匹配的目标报文比对策略；比较模块，用于根据获取的目标报文对比策略对所述参考报文和待验证报文进行比对。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证装置，包括：信息接收模块，用于接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文分别按序存入参考报文列表和待测报文列表中，并分别按序分配对应的序列号，所述参考模型模拟所述待测芯片设计预实现的功能；匹配处理模块，用于在检测到所述待测报文列表中存入一个新的待验证报文时，将所述待测报文列表中当前的各个待验证报文分别采用所述目标报文对比策略与所述参考报文列表中当前的各参考报文进行比对，以及用于当所述待测报文列表中的某一待验证报文和所述参考报文列表中的某一参考报文的对比结果为匹配时，将该对待验证报文和参考报文分别从所述待测报文列表和所述参考报文列表中删除。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种芯片测试器，包括处理器、存储器和通信总线；所述通信总线用于实现处理器和存储器之间的连接通信；所述处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个第一程序，以实现所述的芯片设计验证方法的步骤。或，所述处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个第二程序，以实现如上所述的芯片设计验证方法的步骤。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个第一程序，所述一个或者多个第一程序可被处理器调用以实现所述的芯片设计验证方法的步骤。或，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个第二程序，所述一个或者多个第二程序可被处理器调用以实现所述的芯片设计验证方法的步骤。本专利技术的有益效果是：根据本专利技术实施例提供的芯片设计验证方法、装置、芯片测试器及计算机可读存储介质，预先设置报文对比策略库，该报文对比策略库用于预先存储多种类型的报文之报文对比策略；然后在测试过程中，接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文，参考模型模拟待测芯片设计预实现的功能；然后根据待验证报文的类型，从报文比对策略库中获取与该报文类型相匹配的目标报文比对策略，进而根据获取的目标报文对比策略对参考报文和待验证报文进行比对。本专利技术通过在报文对比策略库预先存储多种类型的报文之报文对比策略，进而可以在测试过程中根据当前待验证报文的类型选择对应的目标报文比对策略进行匹配，因此可以适用于报文激励为多种类型报文的测试场景，相对现有验证平台兼容性、通用性更好，测试效率也能得到有效的提高。本专利技术其他特征和相应的有益效果在说明书的后面部分进行阐述说明，且应当理解，至少部分有益效果从本专利技术说明书中的记载变的显而易见。附图说明图1为现有的一种验证平台架构示意图；图2为本专利技术实施例一的芯片设计验证方法流程示意图；图3为本专利技术实施例一的参考报文和待验证报文比对过程流程示意图；图4为本专利技术实施例二的芯片设计验证装置结构示意图；图5为本专利技术实施例二的DUT测报文流处理流程示意图；图6为本专利技术实施例二的REFM测报文流处理流程示意图；图7为本专利技术实施例二的报文表比对流程示意图；图8为本专利技术实施例二的报文表结构示意图；图9为本专利技术实施例二的报文比较结果队列结构示意图；图10为本专利技术实施例二的报文对比状态检查流程示意图；图11为本专利技术实施例二的报文建模架构示意图；图12为本专利技术实施例二的报文比对调用链结构示意图；图13为本专利技术实施例二的多级报文结构示意图；图14为本专利技术实施例三的芯片设计验证装置结构示意图；图15为本专利技术实施例四的芯片测试器结构示意图；图16为本专利技术实施例四的验证平台架构示意图；图17为本专利技术实施例四的报文元素算法示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面通过具体实施方式结合附图对本专利技术实施例作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。实施例一：本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片设计验证方法，包括：接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文，所述参考模型模拟所述待测芯片设计预实现的功能；根据所述待验证报文的类型，从预设的报文比对策略库中获取与所述类型相匹配的目标报文比对策略，所述报文对比策略库用于存储多种类型报文的报文对比策略；根据获取的目标报文对比策略对所述参考报文和待验证报文进行比对。

【技术特征摘要】
1.一种芯片设计验证方法，包括：接收参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文，所述参考模型模拟所述待测芯片设计预实现的功能；根据所述待验证报文的类型，从预设的报文比对策略库中获取与所述类型相匹配的目标报文比对策略，所述报文对比策略库用于存储多种类型报文的报文对比策略；根据获取的目标报文对比策略对所述参考报文和待验证报文进行比对。2.如权利要求1所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述报文比对策略包括报文级比对策略，所述报文级对比策略包含各种类型报文所需要对比的报文元素，所述报文比对策略库包括用于存储所述报文级比对策略的报文级策略子库；所述根据所述待验证报文的类型，从报文比对策略库中获取与所述报文类型相匹配的目标报文比对策略包括：根据所述待验证报文的类型，从所述报文级策略子库获取与所述类型相匹配的报文级比对策略。3.如权利要求2所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述报文比对策略库还包括用于存储报文元素之比对方法的报文元素级策略子库；所述根据所述待验证报文的类型，从报文比对策略库中获取与所述报文类型相匹配的目标报文比对策略还包括：从所述报文级策略子库获取与所述类型相匹配的报文级比对策略后，从报文元素级策略子库中获取该报文级比对策略包含的报文元素之比对方法。4.如权利要求1-3任一项所述的芯片设计验证方法，其特征在于，接收到所述参考模型和待测芯片设计基于相同报文激励分别输出的参考报文和待验证报文后，还包括将接收到的参考报文和待验证报文分别按序存入参考报文列表和待测报文列表中，并分别按序分配对应的序列号；所述根据获取的目标报文对比策略对所述参考报文和待验证报文进行比对包括：在检测到所述待测报文列表中存入一个新的待验证报文后，将所述待测报文列表中当前的各个待验证报文分别采用所述目标报文对比策略与所述参考报文列表中当前的各参考报文进行比对；当所述待测报文列表中的某一待验证报文和所述参考报文列表中的某一参考报文的对比结果为匹配时，将对比结果、待验证报文的序列号和参考报文的序列号关联存入对比结果列表中。5.如权利要求4所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述待测报文列表中当前的各个待验证报文分别采用所述目标报文对比策略与所述参考报文列表中当前的各参考报文进行比对后，还包括：将所述待测报文列表中与所述参考报文列表中相匹配的待验证报文和参考报文删除；判断列表清空条件是否满足，如是，将待测报文列表和所述参考报文列表按预设清空规则进行清空；所述列表清空条件包括以下条件中的任意一种：所述待测报文列表中当前的待验证报文个数大于等于预设第一报文个数阈值；所述参考报文列表中当前的参考报文个数大于等于预设第二报文个数阈值；所述待测报文列表中当前的待验证报文个数大于等于预设第一报文个数阈值；所述待测报文列表中当前的待验证报文个数大于等于预设第一报文个数阈值，或所述参考报文列表中当前的参考报文个数大于等于预设第二报文个数阈值；所述待测报文列表中当前的待验证报文个数大于等于预设第一报文个数阈值，且所述参考报文列表中当前的参考报文个数大于等于预设第二报文个数阈值。6.如权利要求5所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述预设清空规则包括将所述待测报文列表和所述参考报文列表中当前的报文删除并在比对结果列表中进行以下设置：将所述待测报文列表中的待验证报文与所述参考报文列表中的参考报文按序号从大到小的顺序依次配对，并将配对的待验证报文和参考报文的序号在所述对比结果列表中进行存储，并在所述比对结果列表中将该配对的待验证报文和参考报文的比对结果设置为不匹配；将所述待测报文列表中的待验证报文与所述参考报文列表中的参考报文按序号从大到小的顺序依次配对后，在所述参考报文列表中存在未配对的参考报文时，将该参考证报文的序号在所述对比结果列表中进行存储，并将该参考报文在所述对比结果列表中将对比结果设置为丢待验证报文；在所述待测报文列表中存在未配对的待验证报文时，将该待验证报文的序号在所述对比结果列表中进行存储，并将该待验证报文在所述对比结果列表中将对比结果设置为丢参考报文。7.如权利要求5所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据获取的目标报文对比策略对所述参考报文和待验证报文进行比对之前，还包括获取乱序比对配置信息；所述将所述待测报文列表中与所述参考报文列表中相匹配的待验证报文和参考报文删除后，判断列表清空条件是否满足之前，还包括：根据所述乱序对比配置信息判断是否支持乱序对比，如否，进行以下临时表处理过程：将所述待测报文列表中在所述删除的待验证报文之前接收到的报文及序列号转移到待测报文临时列表中按序存储，并将所述参考报文列表中在所述删除的参考报文之前接收到的报文及序列号转移到参考报文临时列表中按序存储；将所述待测报文临时列表和所述参考报文临时列表中当前的报文删除并在比对结果列表中进行以下设置：将所述待测报文临时列表中的待验证报文与所述参考报文列表中的参考报文按序号从大到小的顺序依次配对，并将配对的待验证报文和参考报文的序号在所述对比结果列表中进行存储，并...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱仁霖，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44