【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于RF孔径的内部加热器优先权本专利申请要求于2016年7月20日提交的题目为“用于RF孔径的内部加热器”的序列号为62/364,722的相应临时专利申请的优先权,并通过引用而并入该临时专利申请。
本专利技术的实施例涉及用于通信的射频(RF)孔径领域;更特别地,本专利技术的实施例涉及RF孔径,诸如例如包括内部加热器的天线。
技术介绍
某些天线技术需要加热天线以使天线达到操作温度。例如,利用液晶的某些天线必须将液晶加热到特定温度,以使液晶如所期望的进行操作。在与液晶显示器(LCD)相关的现有技术中,电阻式加热元件用于针对适当操作,例如在环境温度可达到-40℃至-30℃的汽车显示器应用中,将LC保持在特定温度以上。这些加热元件在与主LCD基底分离的玻璃基底上、由诸如氧化铟锡(ITO)的透明导体制成。该基底随后被接合到主LCD基底以提供导热性。因为加热元件对光学频率是透明的,所以这是为LCD实施加热器简单且实用的方式,即使加热元件在信号路径中。然而,在考虑基于LC的天线时,该方法不可行。因为ITO和类似材料在RF频率下不是透明的,所以将这些类型的加热器元件放置在RF信号的路径中将使RF信号衰减并使天线的性能降低。因此,基于LC的天线的现有技术实施例使用附接到金属馈送(feed)结构或具有良好热性能的其它块体(bulk)机械结构的电阻式加热元件,以对天线的、LC层所处的内部部分进行加热。然而,因为电阻式加热元件通过在天线叠层中的、包括热绝缘体层的多个层而与LC层物理上分离,所以相比于LCD实施方式,必须施加显著更多的热功率以对液晶进行加热。基于LC的天线加热器的其 ...
【技术保护点】
1.一种天线,包括:物理天线孔径,其具有射频(RF)天线元件的阵列;以及多个加热元件,每个加热元件处于RF元件的阵列的RF元件对之间。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.07.20 US 62/364,722;2017.07.18 US 15/653,4151.一种天线,包括:物理天线孔径,其具有射频(RF)天线元件的阵列;以及多个加热元件,每个加热元件处于RF元件的阵列的RF元件对之间。2.根据权利要求1所述的天线,其中所述多个加热元件中的加热元件基本上等距离地处于所述阵列中的RF天线元件之间。3.根据权利要求1所述的天线,其中所述多个加热元件中的加热元件基本上中间地处于膜片/贴片天线元件的环之间。4.根据权利要求1所述的天线,其中所述多个加热元件中的加热元件以环的形式处于所述RF天线元件之间。5.根据权利要求1所述的天线,其中所述多个加热元件是丝。6.根据权利要求5所述的天线,其中大部分所述丝具有相等长度,且横截面的尺寸在加热丝的长度上相似。7.根据权利要求6所述的天线,其中多个所述丝在所述天线孔径上提供每单位面积相同的功率耗散。8.根据权利要求5所述的天线,其中加热丝均匀地分布在天线孔径区域上。9.根据权利要求5所述的天线,其中加热丝的丝横截面的宽度和高度在所述天线孔径上变化,同时具有每单位面积相同的功率耗散。10.根据权利要求5所述的天线,其进一步包括电连接至加热丝以将功率供应至所述加热丝的加热器功率汇流条,其中一个或多个加热器功率汇流条横穿所述孔径的边界密封结构。11.根据权利要求10所述的天线,其中所述一个或多个加热器功率汇流条电连接到膜片层或贴片层上的金属层。12.根据权利要求1所述的天线,其进一步包括温度监测子系统,以监测RF天线元件的温度并且控制所述多个加热元件以调节所述RF天线元件的温度。13.根据权利要求12所述的天线,其中所述温度监测子系统可操作成估计所述RF天线元件中的液晶的液晶温度。14.根据权利要求13所述的天线,其中所述温度监测子系统包括:一个或多个电路,其包括串联联接的电压输入部、电流感测电阻器和晶体管,其中所述晶体管被整合在所述天线中的贴片层上并且与液晶接触;温度控制器,其向所述电路提供输入电压;以及监测电路,其监测所述电流感测电阻器两端的电压以获得测量的电流,其中所述温度控制器可操作成将所述测量的电流与所述晶体管的温度相关联,所述晶体管的温度指示所述液晶温度。15.根据权利要求13所述的天线,其中所述温度监测子系统可操作成通过以下来测量所述液晶温度:监测电流感测电阻器两端的电压,所述电流感测电阻器与晶体管串联联接,所述晶体管被整合在所述天线中的层上并且与所述液晶接触;测量流经所述电流感测电阻器的电流;并且将所述电流与所述晶体管的温度相关联,所述晶体管的温度指示所述液晶温度。16.根据权利要求15所述的天线,其中所述层是具有多个贴片的贴片层,其中所述贴片中的每一个在多个缝隙中的缝隙上方与所述缝隙位于相同位置并且与所述缝隙分离,从而形成贴片/缝隙对。17.根据权利要求13所述的天线,其中所述温度监测子系统可操作成通过以下来测量电容器的电容:匹配所述孔径中的贴片层和膜片层上的导电表面,其中液晶在所述贴片层和所述膜片层之间;利用联接至所述导电表面的电路测量所述电容器的电容;并且将所述电容与所述液晶的温度相关联。18.根据权利要求13所述的天线,其中所述温度监测子系统可操作成测量液晶的衰减速度并且将所述衰减速度与所述液晶的温度相关联。19.根据权利要求1所述的天线,其中所述加热元件是覆...
【专利技术属性】
技术研发人员:赖安·史蒂文森,肯恩·哈普,史蒂文·林恩,迈克尔·J·西弗森,
申请(专利权)人:集美塔公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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