当前位置: 首页 > 专利查询>济南大学专利>正文

一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置制造方法及图纸

技术编号:20376691 阅读:32 留言:0更新日期:2019-02-19 21:33
本发明专利技术涉及一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,包括抛丸机,抛丸,一级筛选板,二级筛选板和光电管测速装置,其特征在于抛丸机把抛丸高速抛出,抛丸机右边设置有一级筛选板,一级筛选板上设置有单个小圆孔,小圆孔轴心线穿过抛丸机抛嘴形心,一级筛选板右边设置二级筛选板,二级筛选板上设置有单个大圆孔,一级筛选板上的小圆孔轴心线与二级筛选板上的大圆孔轴心线重合,二级筛选板右边设置光电测速装置,光电测速装置的两对光电管的发射光线均与大圆孔轴心线相交。本发明专利技术提供一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,具有成本低,测速精度高且结构简单等优点。

A Method and Device for Measuring the Velocity of Shot Blasting Machine Based on Photoelectric Tube

The invention relates to a method and device for measuring shot peening velocity of shot blaster based on photoelectric tube, including shot blasting machine, shot blasting, first-order screening plate, second-order screening plate and photoelectric tube speed measuring device. The device is characterized in that shot blasting machine throws shot peening at high speed, a first-level screening plate is arranged on the right side of shot blasting machine, a single small circular hole is arranged on the first-level screening plate, and the axis of the small circular hole passes through the shot blasting machine. A secondary screening plate is arranged on the right side of the first screening plate, and a single large circular hole is arranged on the second screening plate. The axis line of the small circular hole on the first screening plate coincides with the axis line of the large circular hole on the second screening plate. A photoelectric velocimeter is arranged on the right side of the second screening plate. The light emitted by the photoelectric velocimeter intersects the axis line of the large circular hole. The invention provides a method and device for measuring shot peening velocity of a shot blaster based on a photoelectric tube, which has the advantages of low cost, high speed measuring accuracy and simple structure.

【技术实现步骤摘要】
一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置
本专利技术涉及一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,属于测速

技术介绍
在测速行业里,针对的测速对象一般都为体积较大,或者速度较慢,测速系统能够拥有充裕的反应时间,也就是说对相应的传感器的要求较低,实现难度较低,其一般的实现方式可以有多普勒测试,激光测试,霍尔测速等。对于小体积大速度的物体,上述所提到的测试方法都无法实现,或者难度极大,准确度很低,另外一些非常规的方法可以实现,如高速摄影、粒子动态分析仪和粒子图像测速仪。但是这些设备由于价格昂贵,通常只有实验室才有成本能够有这些设备。这些装备的使用会让制造,研究成本有大幅度的提高。为了较好的解决弹丸的测速问题,本专利技术的测速装置具有价格低,结构简单,测速精度高等优点。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置。为解决现有抛丸的测速问题,本专利技术提供了一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,这种装置结构简单合理、成本较低、操作简便等优点。一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,包括抛丸机1,抛丸2,一级筛选板3,二级筛选板4和光电管测速装置,其特征在于所述抛丸机1把抛丸2高速抛出,所述抛丸机1右边设置有所述一级筛选板3,所述一级筛选板3右边设置二级筛选板4,所述二级筛选板4右边设置所述光电测速装置;所述一级筛选板3上设置有直径为d1单个小圆孔,小圆孔轴心线穿过抛嘴形心;所述二级筛选板4上设置有直径为d2单个大圆孔,要使大圆孔轴心线与小圆孔轴心线重合;所述光电管测速装置包括左固定板5、右固定板8和两对光电管,左固定板5和右固定板8上分别设置一对光电管,每对光电管包括光电发射管和光电接收管;所述左固定板5设置在二级筛选板4的右边,右固定板8设置在左固定板5右边,两对光电管的发射光线都与大圆孔轴心线垂直相交。一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、启动抛丸机1,抛嘴持续抛射出大量抛丸2,抛嘴处抛丸2速度为ν0,经一级筛选板3,筛选出能够顺利穿过小圆孔且速度方向水平向右的抛丸2;步骤2、抛丸2继续向前运动,经二级筛选板4,筛选出做平抛运动的抛丸2;步骤3、经筛选后的抛丸2依次经过左固定板5和右固定板8上的两对光电管,抛丸2经光电发射管6和光电接收管7时的时间为T1,经光电发射管9和光电接收管10时的时间为T2,光电管把光信号转换为电信号,对电信号进行收集、处理,进而得出抛丸2从第一对光电管运动到第二对光电管所用时间T;步骤4、依据如下公式可以求得抛丸2的初始速度v0:L=v0T其中,L为第一对光电管到第二对光电管的水平距离。本专利技术具有下述有益效果:本专利技术提供的一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,装置结构简单可靠,能够准确地测量抛丸机喷出的抛丸的速度。本专利技术中一级筛选板和二级筛选板能够筛选出速度方向水平向右做平抛运动的抛丸;采用光电检测技术,响应快,系统误差小,测得的抛丸速度具有较高的准确度。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍。图1为本专利技术的整体结构示意图;图2为本专利技术中各部分尺寸示意图;图3为本专利技术的抛丸测速系统原理图。图中:1抛丸机,2抛丸,3一级筛选板,4二级筛选板,5左固定板,6光电发射管,7光电接收管,8右固定板,9光电发射管,10光电接收管。具体实施方案下面将结合本专利技术中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述和讨论,显然,这里所描述的仅仅是本专利技术的一部分实例,并不是全部的实例,基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术的保护范围。参照附图2,一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,包括抛丸机1,抛丸2,一级筛选板3,二级筛选板4和光电管测速装置。其特征在于抛丸机1把抛丸2高速抛出,抛丸机1右边距离L1处设置有一级筛选板3,一级筛选板3上设置有直径为d1单个小圆孔,小圆孔轴心线穿过抛丸机1抛嘴形心,一级筛选板3右边距离t1处设置二级筛选板4,二级筛选板4上设置有直径为d2的单个大圆孔,一级筛选板3上的小圆孔轴心线与二级筛选板4上的大圆孔轴心线重合,二级筛选板4右边距离t2处设置光电管测速装置。光电测速装置包括左固定板5、右固定板8和两对光电管,每对光电管包括光电发射管和光电接收管,左固定板5上设置第一对光电管,即光电发射管6和光电接收管7,右固定板8上设置第二对光电管,即光电发射管9和光电接收管10;左固定板5与二级筛选板4的距离为t2,右固定板8设置在左固定板5右边距离L处,两对光电管的发射光线都与大圆孔中心线垂直相交;一级筛选板3和二级筛选板4厚度为t,左固定板5和右固定板8厚度为2t。抛丸直径为D,其他尺寸取值范围如下:t<D,1.1D<d1≤1.5D,1.5D<d2≤2D,2D<l1<5D,1.1D<t1<1.5D;t2尺寸无严格要求,可适当选取。L尺寸需要进行适当选取,如果两对光电管之间距离太小,会使得测量的时长T数值太小,从而导致计算得到的抛丸初速度v0误差大;如果两对光电管之间距离太大,空气摩擦及其他因素会导致抛丸速度下降,进而导致计算得到的抛丸初速度v0数值偏小。如图1所示,抛丸机1将抛丸2高速抛出后,经过一级筛选板3和二级筛选板4使其做平抛运动,抛丸2经过二级筛选板4后,抛丸2通过光电管1时得到时间T1,通过光电管2时得到时间T2,这样可以得到抛丸通过距离L所需要的时间T。一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,包括以下步骤:启动抛丸机1,抛嘴持续喷射出大量抛丸2,经一级筛选板3,筛选出能够顺利穿过小圆孔且速度方向水平向右的抛丸2。抛丸2继续向前运动,经过二级筛选板4筛选出做平抛运动的抛丸2。经筛选后的抛丸2依次经过左固定板5和右固定板8上的两对光电管,光电管把光信号转换为电信号,对电信号进行收集、处理,进而得出抛丸2从第一对光电管运动到第二对光电管所用时间T。依据如下公式可以求得弹丸4的初始速度v0:L=v0T其中,L为第一对光电管到第二对光电管的水平距离。参考图3,为本专利技术的抛丸测速系统原理图。所用光电管为数字光电管,可将光信号直接转换为数字电信号0或1。抛丸2遮挡光电发射管发射到光电接收管的光线时,数字光电管输出数字电信号1,反之,数字光电管输出数字电信号0。抛丸2经过左固定板5上的第一对光电管,遮挡光电发射管6发射到光电接收管7的光线时,数字光电管输出数字电信号1,单片机收到第一对光电管的数字电信号后,主控模块开启定时器中断,初始化时间寄存器为0,计时模块开始计时。抛丸2经过右固定板8上的第一对光电管,遮挡光电发射管9发射到光电接收管10的光线时,数字光电管输出数字电信号1,单片机收到第二对光电管的数字电信号后,主控模块关闭计时模块,通过读取单片机寄存器内的数据得到时间差T,该时间差T即为抛丸2从第一对光电管运动到第二对光电管所用时间T。依据如下公式可以求得抛丸2的初始速度v0:L=v0T其中,L为第一对光电管到第二对光电管的水平本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,包括抛丸机,抛丸,一级筛选板,二级筛选板和光电管测速装置,其特征在于所述抛丸机把抛丸高速抛出,所述抛丸机右边设置有所述一级筛选板,所述一级筛选板右边设置二级筛选板,所述二级筛选板右边设置所述光电测速装置;所述一级筛选板设置有单个小圆孔,小圆孔轴心线穿过抛嘴形心;所述二级筛选板上设置有单个大圆孔,要使大圆孔轴心线与小圆孔轴心线重合;所述光电管测速装置包括左固定板、右固定板和两对光电管,左固定板和右固定板上分别设置一对光电管,每对光电管包括光电发射管和光电接收管;所述左固定板设置在二级筛选板的右边,右固定板设置在左固定板右边,两对光电管的发射光线都与大圆孔轴心线垂直相交。

【技术特征摘要】
1.一种基于光电管的抛丸器丸料抛射测速度测试方法及装置,包括抛丸机,抛丸,一级筛选板,二级筛选板和光电管测速装置,其特征在于所述抛丸机把抛丸高速抛出,所述抛丸机右边设置有所述一级筛选板,所述一级筛选板右边设置二级筛选板,所述二级筛选板右边设置所述光电测速装置;所述一级筛选板设置有单个小圆孔,小圆孔轴心线穿过抛嘴形心;所述二级筛选板上设置有单个大圆孔,要使大圆孔轴心线与小圆孔轴心线重合;所述光电管测速装置包括左固定板、右固定板和两对光电管,左固定板和右固定板上分别设置一对光电管,每对光电管包括光电发射管和光电接收管;所述左固定板设置在二级筛选板的右边,右固定板设置在左固定板右边,两对光电管的发射光线都与大圆孔轴心线垂直相交。2.一种基于光电管的抛...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘恩义郭培全乔阳黄宇邦栗思伟张海泉
申请(专利权)人:济南大学山东开泰抛丸机械股份有限公司
类型:发明
国别省市:山东,37

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1