一种通讯设备的温升测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种通讯设备的温升测试方法及系统，本发明专利技术中，待测试通讯设备表面温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，内部元件温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过该内部元件正常工作能承受的最高温度；自然降温阶段中，老化箱密封，其内没有空气对流，因而，热敏电阻丝能准确反映待测试通讯设备表面与内部元件的温度，据此作出的合格与否判断准确。

【技术实现步骤摘要】
一种通讯设备的温升测试方法及系统
本专利技术涉及温升测试
，尤其涉及一种通讯设备的温升测试方法及系统。
技术介绍
通讯设备在使用过程中，各元件会发热，有些元件受温度影响，性能有很大波动，有些元件甚至会失效。因而，通讯设备在制造过程中一般会按比例抽样做温升测试，若该温升测试合格，才可以出厂。然而，实际中，对于符合温升测试要求的通讯设备，仍会出现元件温度过高影响性能，甚至失效的问题。有鉴于此，实有必要提供一种新的通讯设备的温升测试方法及系统，以获得准确的测试结果。
技术实现思路
本专利技术的专利技术目的是提供一种通讯设备的温升测试方法及系统，测试结果准确。为实现上述目的，本专利技术提供一种通讯设备的温升测试方法，包括：在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，所述各个热敏电阻丝并联；将所述布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封所述老化箱，所述置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载；对所述老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；开启所述老化箱的电源，所述待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭所述老化箱的电源；关闭所述老化箱的电源后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。可选地，所述搁板的材质与所述待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。可选地，所述待测试通讯设备为智能音响或路由器，所述搁板的材质为木制；和/或所述待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，所述搁板的材质为瓷砖。可选地，所述加热温度的范围为35～50℃，所述升温时间的范围为10～30分钟，所述保温时间的范围为60～120分钟。可选地，所述老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。本专利技术还提供一种通讯设备的温升测试系统，包括：电流监测电路、老化箱、温度-时间曲线获取模块、剔除模块以及判断模块；其中：所述电流监测电路包括多个并联的热敏电阻丝，各个热敏电阻丝布置在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件上，所述电流监测电路用于监测各个热敏电阻丝的电流；所述老化箱具有隔层以及温控模块，所述隔层用于承载搁板以及所述搁板承载的布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备；所述温控模块用于控制加热温度、升温时间以及保温时间，以使所述待测试通讯设备经历升温阶段及保温阶段，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；所述温控模块断电后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，所述温度-时间曲线获取模块基于所述电流监测电路实时监测的各个热敏电阻丝的电流，得到各个热敏电阻丝的电阻值，基于各个电阻值及热敏电阻丝的阻值-温度曲线，换算所述各个热敏电阻丝的温度，进而得到待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；所述剔除模块用于判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，所述判断模块用于判断所述曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，判断待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则判断合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，所述判断模块用于判断所述曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，判断所对应的内部元件温升测试不合格，否则判断合格。可选地，所述搁板的材质与所述待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。可选地，所述待测试通讯设备为智能音响或路由器，所述搁板的材质为木制；和/或所述待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，所述搁板的材质为瓷砖。可选地，所述老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。可选地，还包括存储模块，所述存储模块保存有各种通讯设备表面以及内部各种元件的预设升温曲线，以及各种通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度以及内部各种元件正常工作能承受的最高温度。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：1)本专利技术中，待测试通讯设备表面温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，内部元件温升测试是否合格判断的是自然降温阶段的温度最高点是否超过该内部元件正常工作能承受的最高温度；自然降温阶段中，老化箱密封，其内没有空气对流，因而，热敏电阻丝能准确反映待测试通讯设备表面与内部元件的温度，据此作出的合格与否判断准确。2)可选方案中，待测试通讯设备置入老化箱时的搁板，其材质与该待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。例如a)待测试通讯设备为智能音响或路由器，搁板的材质为木制；b)待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，搁板的材质为瓷砖。换言之，升温测试过程中模拟待测试通讯设备在使用过程中的环境，使得升温测试结果对待测试通讯设备的使用更有参考价值。3)可选方案中，老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。相对于每次对一个待测试通讯设备进行温升测试的方案，本方案一方面能提高测试效率，另一方面各温度-时间曲线可以相互参照，利于快速剔除不符合待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线的温度-时间曲线。附图说明图1是本专利技术一实施例中的通讯设备的温升测试方法的流程图；图2是本专利技术一实施例中的通讯设备的温升测试系统的模块图。为方便理解本专利技术的具体方案，以下列出本专利技术中出现的所有附图标记：温升测试系统1电流监测电路11老化箱12温度-时间曲线获取模块13剔除模块14判断模块15热敏电阻丝11a隔层12a温控模块12b搁板12c具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。图1是本专利技术一实施例中的通讯设备的温升测试方法的流程图。以下分步骤详细介绍上述温升测试方法。参照图1所示，首先，执行步骤S1：在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，各个热敏电阻丝并联；将布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封老化箱，置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载。一个方案中，各个热敏电阻丝相同，即在同一温度下电阻值相同，温度每升高1℃，电阻值增加或减小量也相同。另一个方案中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通讯设备的温升测试方法，其特征在于，包括：在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，所述各个热敏电阻丝并联；将所述布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封所述老化箱，所述置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载；对所述老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；开启所述老化箱的电源，所述待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭所述老化箱的电源；关闭所述老化箱的电源后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度‑时间曲线；判断各个温度‑时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度‑时间曲线；对于符合的温度‑时间曲线中待测试通讯设备表面的温度‑时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度‑时间曲线中内部元件的温度‑时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。...

【技术特征摘要】
1.一种通讯设备的温升测试方法，其特征在于，包括：在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，所述各个热敏电阻丝并联；将所述布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封所述老化箱，所述置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载；对所述老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；开启所述老化箱的电源，所述待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭所述老化箱的电源；关闭所述老化箱的电源后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。2.根据权利要求1所述的温升测试方法，其特征在于，所述搁板的材质与所述待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。3.根据权利要求2所述的温升测试方法，其特征在于，所述待测试通讯设备为智能音响或路由器，所述搁板的材质为木制；和/或所述待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，所述搁板的材质为瓷砖。4.根据权利要求1所述的温升测试方法，其特征在于，所述加热温度的范围为35～50℃，所述升温时间的范围为10～30分钟，所述保温时间的范围为60～120分钟。5.根据权利要求1所述的温升测试方法，其特征在于，所述老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。6.一种通讯设备的温升测试系统，特征在于，包括：电流监测电路、老化箱、温度-时间曲线获取模块、剔除模块以及判断模块；其中：所述电流监测电路包括多个并联的热敏电阻丝，各个热敏电阻丝布置在待测试通讯设...

【专利技术属性】
技术研发人员：林燕群，
申请(专利权)人：四川斐讯信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51