The invention discloses a preparation method of a memristor device, which comprises the following steps: crushing the dried sweet potato peel with a grinder, filtering and obtaining the micron-sized sweet potato peel powder for reserve; preparing a mixed solution: mixing the sweet potato peel powder with a volume percentage of 50%-55% and polyvinylidene fluoride with a volume percentage of 20%-25%. Mixed solution was prepared by mixing 20% ~ 25% water, and the resistance of the substrate was 20 with fluorine-doped SnO2 transparent conductive glass FTO. The mixed solution was spin-coated on the conductive side of the substrate by spin-coating method. The substrate is dried for more than 12 hours in a drying chamber at 30 C. After drying, the substrate is put into a vacuum deposition device to vacuum. Ag is deposited on the surface of the dielectric layer by DC sputtering as the upper electrode of the device. The working pressure is 2pa, the sputtering current is 0.1A, and the sputtering time is 10 minutes. Skin /FTO structure of memristor device.
【技术实现步骤摘要】
一种忆阻器件的制备方法
本专利技术涉及半导体薄膜器件领域,具体涉及一种基于红薯皮为原材料的忆阻器件的制备方法。
技术介绍
随着近年来电子设备技术的革命和对更高数据存储密度需求的日益增长,出现了各式各样的存储器件而目前使用的存储器可以分为两类,即易失性的随机存储器和非易失性存储器。前者主要产品有动态随机存取存储器和静态随机存储器,数据存储速度快,但当结束供电后,所存储的信息将会很快消失,因此易失性存储器存储的信息需要不断刷新。后者主要有ROM(只读存储器)、PROM(可编程存储器)、EEPROM(电可擦除存储器)、Flash(闪存)等,它们的存储速度相对较慢,但是具有断电后仍然能够继续保持存储数据的特性,已经广泛应用于许多小型电子设备中,其中Flash已经成为目前最为成熟的非易失性存储器。存储器的特征尺寸很难缩小,因此Flash存储器制造面临无法继续缩小尺寸的问题,使其应用受到了很大的限制,发展也进入了瓶颈期。由于目前的存储器容量有限,存储资源利用率低,单位成本高,延展性差,平均访问时间较长。因此,非易失性有机电阻记忆装置已引起广泛关注。非易失性存储器技术迅速发展起来,它是数据存储系统的重要组成部分。一般来说,这些有机电子设备具有结构简单,可折叠,低成本,低功耗,多态特性,三维堆积能力等优点。另一方面,天然的生物材料,通常是环保的,生物兼容的,生物可降解的,已经引起了对可移植、生物兼容、可穿戴和绿色电子设备应用的极大兴趣。忆阻随机存储器(RRAM)是基于忆阻效应的一种存储器,简称忆阻器,与磁存储器结构类似,存储单元为导体/绝缘体/导体构成的三明治结构,但是介 ...
【技术保护点】
1.一种忆阻器件的制备方法,具体包括如下步骤:步骤一、将准备好的红薯皮,通过日晒干燥,备用;步骤二、将干燥的红薯皮,使用200目的粉碎机粉碎,研磨,过滤获取微米级的红薯皮粉末,备用;步骤三、制备混合溶液:将体积百分比为50%~55%的红薯皮粉末与体积百分比为20%~25%的聚偏氟乙烯混合均匀,再加入体积百分比为20%~25%水充分搅拌,制成混合溶液;步骤四、用掺杂氟的SnO2透明导电玻璃FTO做基片,基片的电阻是20Ω,利用旋涂法将步骤三得到的混合溶液在基片导电的一面旋涂成薄膜作为器件的介电层;步骤五、将步骤四中得到的带介电层的基片,在30℃的干燥箱里干燥12小时以上;步骤六、将步骤五中干燥之后的基片放入真空沉积设备,抽真空;步骤七、通过直流溅射在介电层的表面沉积金属银作为器件的上电极,工作气压为2pa,溅射电流为0.1A,溅射时间为10分钟,得到具有Ag/红薯皮/FTO结构的忆阻器件。
【技术特征摘要】
1.一种忆阻器件的制备方法,具体包括如下步骤:步骤一、将准备好的红薯皮,通过日晒干燥,备用;步骤二、将干燥的红薯皮,使用200目的粉碎机粉碎,研磨,过滤获取微米级的红薯皮粉末,备用;步骤三、制备混合溶液:将体积百分比为50%~55%的红薯皮粉末与体积百分比为20%~25%的聚偏氟乙烯混合均匀,再加入体积百分比为20%~25%水充分搅拌,制成混合溶液;步骤四、用掺杂氟的SnO2透明导电玻璃FTO做基片,基片的电阻是20Ω,利用旋涂法将步骤三得到的混合溶液在基片导电的一面旋涂成薄膜作为器件的介电层;步骤五、将步骤四中得到的带介电层的基片,在30℃的干燥箱里干燥12小时以上;步骤六、将步骤五中干燥...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙柏,朱守辉,毛双锁,郑良,夏钰东,赵勇,
申请(专利权)人:西南交通大学,
类型:发明
国别省市:四川,51
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