TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法技术

技术编号:19138974 阅读:22 留言:0更新日期:2018-10-13 08:30
本发明专利技术提供一种TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法。该TFT阵列基板包括第一触控检测信号输出模块以及第二触控检测信号输出模块,第一触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应且控制端接入第一控制信号的多个第一开关单元,第二触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应且控制端接入第二控制信号的多个第二开关单元,在对TFT阵列基板进行触控检测时,通过调整第一控制信号及第二控制信号,能够利用第一触控检测信号输出模块或第二触控检测信号输出模块向多条触控走线输出触控检测信号,即使两个触控检测信号输出模块中的一个受到损坏,仍能够保证触控检测信号的可靠输出,具有较高的产品品质。

Detection method of TFT array substrate and TFT array substrate

The invention provides a TFT array substrate and a detection method for the TFT array substrate. The TFT array substrate comprises a first touch detection signal output module and a second touch detection signal output module. The first touch detection signal output module comprises a plurality of first switching units corresponding to a plurality of touch control paths and the control end is connected with the first control signal, and the second touch detection signal output module comprises the following modules: A plurality of second switching units corresponding to a plurality of touch paths and connected to a second control signal at the control end can lead to a plurality of touch paths by adjusting the first control signal and the second control signal during the touch detection of the TFT array substrate. Output touch detection signal, even if one of the two touch detection signal output modules is damaged, can still ensure the reliable output of touch detection signal, with high product quality.

【技术实现步骤摘要】
TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法。
技术介绍
在显示
,液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay,LCD)、有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,OLED)显示器等平板显示装置已经逐步取代阴极射线管(CathodeRayTube,CRT)显示装置。液晶显示装置具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置,其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。通常液晶显示面板由彩膜(ColorFilter,CF)基板、薄膜晶体管(ThinFilmTransistor,TFT)阵列基板、夹于彩膜基板与薄膜晶体管阵列基板之间的液晶(LiquidCrystal,LC)及密封胶框(Sealant)组成。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子,两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线,通过通电与否来控制液晶分子改变方向,将背光模组的光线折射出来产生画面。现有的具有触控功能的液晶显示面板会在TFT阵列基板上制作多条触控走线及多个触控感测端子,多个触控感测端子位于TFT阵列基板的显示区内,多条触控走线与多个触控感测端子连接,用于向多个触控感测端子传输触控感测信号。为保证各条触控走线的可靠性,现有技术会在TFT阵列基板的显示区外侧制作触控检测信号输出电路,并在将TFT阵列基板与彩膜基板组装以形成显示面板之前,利用触控检测信号输出电路向多条触控走线输入触控检测信号,而后检测各个触控感测端子是否能够正常工作,以拦检具有触控走线不良的产品,减小制作成本。采用该种结构的TFT阵列基板,触控检测信号输出电路一旦在制程中受到损坏(例如静电击穿损伤等)便无法正常输出触控检测信号,无法对触控走线的不良进行有效检测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种TFT阵列基板,向触控走线输出触控检测信号的可靠性高,产品品质好。本专利技术的另一目的在于提供一种TFT阵列基板的检测方法,能够可靠地向触控走线输出触控检测信号,且操作简单。为实现上述目的,本专利技术首先提供一种TFT阵列基板,包括衬底、设于衬底上的多列触控走线、与多列触控走线均电性连接的第一触控检测信号输出模块以及与多列触控走线均电性连接的第二触控检测信号输出模块;所述第一触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应的多个第一开关单元;所述第一开关单元的控制端接入第一控制信号,输出端电性连接对应的触控走线;与奇数列触控走线对应的第一开关单元的输入端接入第一触控检测信号,与偶数列触控走线对应的第一开关单元的输入端接入第二触控检测信号;所述第二触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应的多个第二开关单元;所述第二开关单元的控制端接入第二控制信号,输出端电性连接对应的触控走线;与奇数列触控走线对应的第二开关单元的输入端接入第一触控检测信号,与偶数列触控走线对应的第二开关单元的输入端接入第二触控检测信号。所述衬底包括有效显示区、及设于有效显示区一端的芯片绑定区;所述多条触控走线均位于有效显示区内;所述第一触控检测信号输出模块位于芯片绑定区与有效显示区之间;所述第二触控检测信号输出模块位于芯片绑定区远离有效显示区的一端。所述第一触控检测信号输出模块还包括第一控制信号走线及至少一个与所述第一控制信号走线电性连接的第一控制信号产生单元;所述多个第一开关单元的控制端均电性连接第一控制信号走线;所述第一控制信号产生单元用于向第一控制信号走线提供第一控制信号。所述第一触控检测信号输出模块包括两个第一控制信号产生单元,该两个第一控制信号产生单元分别与第一控制信号走线的两端连接。所述第二触控检测信号输出模块还包括第二控制信号走线及至少一个与所述第二控制走线电性连接的第二控制信号产生单元,所述多个第二开关单元的控制端均电性连接第二控制信号走线,所述第二控制信号产生单元用于向第二控制信号走线提供第二控制信号。所述第二触控检测信号输出模块包括一个第二控制信号产生单元,该一个第二控制信号产生单元与第二控制信号走线的一端电性连接。所述第一开关单元为第一N型薄膜晶体管,所述第一N型薄膜晶体管的栅极为第一开关单元的控制端,源极为第一开关单元的输入端,漏极为第一开关单元的输出端。所述第二开关单元为第二N型薄膜晶体管,所述第二N型薄膜晶体管的栅极为第二开关单元的控制端,源极为第二开关单元的输入端,漏极为第二开关单元的输出端。所述衬底还包括设于芯片绑定区远离有效显示区一端的柔性电路板绑定区;所述第二触控检测信号输出模块设于芯片绑定区与柔性电路板绑定区之间。本专利技术还提供一种TFT阵列基板的检测方法,用于对上述的TFT阵列基板进行检测,包括:所述第一控制信号控制多个第一开关单元导通,所述第二控制信号控制多个第二开关单元截止,第一触控检测信号经与奇数列的触控走线对应的第一开关单元输入奇数列的触控走线中,第二触控检测信号经与偶数列的触控走线对应的第一开关单元输入偶数列的触控走线中;所述第一控制信号控制多个第一开关单元截止,所述第二控制信号控制多个第二开关单元导通,第一触控检测信号经与奇数列的触控走线对应的第二开关单元输入奇数列的触控走线中,第二触控检测信号经与偶数列的触控走线对应的第二开关单元输入偶数列的触控走线中。本专利技术的有益效果:本专利技术提供的一种TFT阵列基板包括第一触控检测信号输出模块以及第二触控检测信号输出模块,第一触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应且控制端接入第一控制信号的多个第一开关单元,第二触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应且控制端接入第二控制信号的多个第二开关单元,在对TFT阵列基板进行触控检测时,通过调整第一控制信号及第二控制信号,能够利用第一触控检测信号输出模块或第二触控检测信号输出模块向多条触控走线输出触控检测信号,即使两个触控检测信号输出模块中的一个受到损坏,仍能够保证触控检测信号的可靠输出,具有较高的产品品质。本专利技术提供的一种TFT阵列基板的检测方法能够可靠地向触控走线输出触控检测信号,且操作简单。附图说明为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
,请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本专利技术加以限制。附图中,图1为本专利技术的TFT阵列基板的结构示意图;图2为本专利技术的TFT阵列基板的测试方法的流程图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果,以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅图1,本专利技术提供一种TFT阵列基板,包括衬底100、设于衬底100上的多列触控走线200、与多列触控走线200均电性连接的第一触控检测信号输出模块310以及与多列触控走线200均电性连接的第二触控检测信号输出模块320。所述第一触控检测信号输出模块310包括分别与多条触控走线200对应的多个第一开关单元311。所述第一开关单元311的控制端接入第一控制信号TPEN1,输出端电性连接对应的触控走线200。与奇数列触控走线200对应的第一开关单元311的输入端接入第一触控检测信号TPDO,与偶数列触控走线200对本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种TFT阵列基板,其特征在于,包括衬底(100)、设于衬底(100)上的多列触控走线(200)、与多列触控走线(200)均电性连接的第一触控检测信号输出模块(310)以及与多列触控走线(200)均电性连接的第二触控检测信号输出模块(320);所述第一触控检测信号输出模块(310)包括分别与多条触控走线(200)对应的多个第一开关单元(311);所述第一开关单元(311)的控制端接入第一控制信号(TPEN1),输出端电性连接对应的触控走线(200);与奇数列触控走线(200)对应的第一开关单元(311)的输入端接入第一触控检测信号(TPDO),与偶数列触控走线(200)对应的第一开关单元(311)的输入端接入第二触控检测信号(TPDE);所述第二触控检测信号输出模块(320)包括分别与多条触控走线(200)对应的多个第二开关单元(321);所述第二开关单元(321)的控制端接入第二控制信号(TPEN2),输出端电性连接对应的触控走线(200);与奇数列触控走线(200)对应的第二开关单元(321)的输入端接入第一触控检测信号(TPDO),与偶数列触控走线(200)对应的第二开关单元(321)的输入端接入第二触控检测信号(TPDE)。...

【技术特征摘要】
1.一种TFT阵列基板,其特征在于,包括衬底(100)、设于衬底(100)上的多列触控走线(200)、与多列触控走线(200)均电性连接的第一触控检测信号输出模块(310)以及与多列触控走线(200)均电性连接的第二触控检测信号输出模块(320);所述第一触控检测信号输出模块(310)包括分别与多条触控走线(200)对应的多个第一开关单元(311);所述第一开关单元(311)的控制端接入第一控制信号(TPEN1),输出端电性连接对应的触控走线(200);与奇数列触控走线(200)对应的第一开关单元(311)的输入端接入第一触控检测信号(TPDO),与偶数列触控走线(200)对应的第一开关单元(311)的输入端接入第二触控检测信号(TPDE);所述第二触控检测信号输出模块(320)包括分别与多条触控走线(200)对应的多个第二开关单元(321);所述第二开关单元(321)的控制端接入第二控制信号(TPEN2),输出端电性连接对应的触控走线(200);与奇数列触控走线(200)对应的第二开关单元(321)的输入端接入第一触控检测信号(TPDO),与偶数列触控走线(200)对应的第二开关单元(321)的输入端接入第二触控检测信号(TPDE)。2.如权利要求1所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述衬底(100)包括有效显示区(110)、及设于有效显示区(110)一端的芯片绑定区(120);所述多条触控走线(200)均位于有效显示区(110)内;所述第一触控检测信号输出模块(310)位于芯片绑定区(120)与有效显示区(110)之间;所述第二触控检测信号输出模块(320)位于芯片绑定区(120)远离有效显示区(110)的一端。3.如权利要求1所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述第一触控检测信号输出模块(310)还包括第一控制信号走线(312)及至少一个与所述第一控制信号走线(312)电性连接的第一控制信号产生单元(313);所述多个第一开关单元(311)的控制端均电性连接第一控制信号走线(312);所述第一控制信号产生单元(313)用于向第一控制信号走线(312)提供第一控制信号(TPEN1)。4.如权利要求3所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述第一触控检测信号输出模块(310)包括两个第一控制信号产生单元(313),该两个第一控制信号产生单元(313)分别与第一控制信号走线(312)的两端连接。5.如权利要求1所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述第二触控检测信号输出模块(32...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖作敏张启沛苗思文
申请(专利权)人:武汉华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:湖北,42

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