一种等边三棱镜顶角偏差测量方法技术

本发明专利技术公开了一种等边三棱镜顶角偏差测量方法。该方法包括三个步骤：第一步、将两块反射镜固定成60°的角镜，且角镜60°角的角平分线与干涉仪出射光光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角；第二步、将待测等边三棱镜放在干涉仪与角镜之间，且待测顶角正对干涉仪，由干涉图测量出经等边三棱镜待测顶角的两个侧面，再分别经过角镜的两个面反射回来的两支光的夹角；第三步、综合测量结果，得到待测等边三棱镜的顶角偏差。本方法步骤少、操作简单、精度高，可以用于等边三棱镜顶角偏差的高精度测量。

【技术实现步骤摘要】
一种等边三棱镜顶角偏差测量方法
本专利技术属于光干涉测量
，特别是一种等边三棱镜顶角偏差测量方法。
技术介绍
光学透射材料是光学材料的重要组成部分，光学非均匀性作为评价光学透射材料性能的重要指标，反映的是同一块光学材料内部折射率的不一致性。光学材料内部的折射率不一致，将直接导致透射波前的改变，进而改变光学系统的波像差。通常情况下，10-6量级的光学非均匀性，会引入波长量级的波像差，因此对光学元件光学非均匀性的高精度检测具有重要的意义。国内外专家对等边三棱镜顶角偏差的检测方法进行了大量的研究。主要有自准直法、平行光法、内角反射法。基于自准直望远镜的自准直法进行等边三棱镜顶角偏差的检测时，需要两次调整望远镜与待测顶角的两侧边分别垂直，测量精度受限于分度盘的精度，测量结果的不确定度值较大；平行光法进行等边三棱镜顶角偏差的检测，要求调节分光计接收平行光经待测顶角的两侧边反射的光，系统操作复杂、调节要求高；基于干涉测量的内角反射法进行等边三棱镜顶角偏差的检测，需要干涉仪的出射光在棱镜内部多次反射，若棱镜材料的均匀性不好，会导致光线偏转，影响测量精度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量精度高、操作简便的利用斐索型激光干涉仪测量等边三棱镜的顶角偏差的测量方法。实现本专利技术目的的技术解决方案为：一种等边三棱镜顶角偏差测量方法，该方法基于斐索型激光干涉系统，使用外角补偿法测量等边三棱镜的顶角偏差，具体包括以下步骤：步骤1，在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角；步骤2，将待测等边三棱镜放在干涉仪与角镜之间，且待测顶角正对干涉仪；由干涉图测量出经等边三棱镜待测顶角的两个侧面，再分别经角镜两个面反射回来的两支光的夹角；步骤3，根据步骤1、2的测量结果，计算待测等边三棱镜的顶角偏差。进一步地，步骤1所述在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角，具体如下：(1.1)调整待测组成角镜的两反射镜的姿态，使分别经两反射镜返回的光自准直回去，且两组干涉条纹数均少于设定值；(1.2)利用斐索型激光干涉仪，采集经参考镜返回的光与角镜两侧面分别返回的光形成的两组干涉条纹，分析得到角镜两侧面分别返回的光的夹角Θ。进一步地，步骤2所述所述将待测等边三棱镜放在干涉仪与角镜之间，且待测顶角正对干涉仪；由干涉图测量出经等边三棱镜待测顶角的两个侧面，再分别经角镜两个面反射回来的两支光的夹角，具体步骤如下：(2.1)将待测三棱镜固定在调整架上，并将待测顶角正对干涉仪出光口。粗调三棱镜的姿态，使干涉仪出射光经三棱镜顶角的两侧面，再分别经角镜两反射面返回的光自准直回去，得到干涉图；(2.2)调节固定三棱镜的调整架，精调三棱镜的姿态，直至两组干涉条纹数均少于设定值；(2.3)由干涉图测量出反射回来的两支光的夹角进一步地，步骤3所述根据步骤1、2的测量结果，计算待测等边三棱镜的顶角偏差Δθ，公式如下：其中，Θ为角镜两侧面分别返回的光的夹角，为由干涉图测量出的反射回来的两支光的夹角。本专利技术与现有技术相比，其显著优点为：(1)采用斐索型激光干涉仪测量60°角镜的角度偏差和自准直回来的两支光的夹角，根据理论关系推导，由上述测量结果可计算得到待测三棱镜的顶角偏差，共两步测量，步骤少，操作简单；(2)避免了常规内角反射测量由于待测件自身材料均匀性等问题引入的误差，适用于等边三棱镜顶角偏差的高精度测量。下面结合附图对本专利技术作进一步详细描述。附图说明图1为本专利技术参考坐标系的示意图。图2为本专利技术等边三棱镜顶角偏差测量方法的流程图。图3为本专利技术60°角镜角度偏差测量示意图。图4为本专利技术待测等边三棱镜顶角角度偏差示意图。具体实施方式结合图1，本专利技术中所有的测量过程都在图1所示的参考坐标系下进行。建立坐标系，以斐索型激光干涉仪的光轴发射方向为z轴，垂直地面方向为y轴，x轴、y轴、z轴构成拇指沿光轴方向的右手坐标系。结合图2-图4，本专利技术等边三棱镜顶角偏差测量方法，包括以下步骤：步骤1，如图3所示，在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行。调整待测组成角镜的两反射镜的姿态，使分别经两反射镜返回的光自准直回去，且两组干涉条纹数均少于设定值。利用干涉仪采集经参考镜返回的光与角镜两侧面分别返回的光形成的两组干涉条纹，加以分析，得到角镜两侧面分别返回的光的夹角。步骤2，如图4所示，将待测三棱镜固定在调整架上，并将待测顶角正对干涉仪出光口。粗调三棱镜的姿态，使干涉仪出射光经三棱镜顶角的两侧面，再分别经角镜两反射面返回的光自准直回去，得到干涉图；调节固定三棱镜的调整架，精调三棱镜的姿态，直至两组干涉条纹数均少于设定值；由干涉图测量出反射回来的两支光的夹角步骤3，综合步骤1、2的测量结果，得到待测等边三棱镜的顶角偏差Δθ：其中，Θ为角镜两侧面分别返回的光的夹角，为由干涉图测量出的反射回来的两支光的夹角。实施例1本专利技术等边三棱镜顶角偏差测量方法，该方法基于斐索型激光干涉仪系统，具体包括以下步骤：步骤1，在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角，具体如下：(1.1)调整待测组成角镜的两反射镜的姿态，使分别经两反射镜返回的光自准直回去；(1.2)利用斐索型激光干涉仪，采集经参考镜返回的光与角镜两侧面分别返回的光形成的两组干涉条纹，加以分析，得到角镜两侧面分别返回的光的夹角Θ。步骤2，将待测等边三棱镜放在干涉仪与角镜之间，且待测顶角正对干涉仪。由干涉图测量出经等边三棱镜待测顶角的两个侧面，再分别经角镜两个面反射回来的两支光的夹角，具体步骤如下：(2.1)将待测三棱镜固定在调整架上，并将待测顶角正对干涉仪出光口。粗调三棱镜的姿态，使干涉仪出射光经三棱镜顶角的两侧面，再分别经角镜两反射面返回的光自准直回去，得到干涉图；(2.2)调节固定三棱镜的调整架，精调三棱镜的姿态，直至两组干涉条纹数均较少；(2.3)由干涉图测量出反射回来的两支光的夹角步骤4，根据步骤1、2的测量结果，计算待测等边三棱镜的顶角偏差Δθ：综上所述，本专利技术提出的一种等边三棱镜顶角偏差测量方法，利用斐索型激光干涉仪对待测的等边三棱镜进行干涉测量，通过两步波面测量，最终计算得到待测等边三棱镜的顶角偏差。本专利技术所使用的测量方法共进行两步测量，测量精度高、操作简单、容易实现。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种等边三棱镜顶角偏差测量方法，其特征在于，该方法基于斐索型激光干涉系统，使用外角补偿法测量等边三棱镜的顶角偏差，具体包括以下步骤：步骤1，在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角；步骤2，将待测等边三棱镜放在干涉仪与角镜之间，且待测顶角正对干涉仪；由干涉图测量出经等边三棱镜待测顶角的两个侧面，再分别经角镜两个面反射回来的两支光的夹角；步骤3，根据步骤1、2的测量结果，计算待测等边三棱镜的顶角偏差。

【技术特征摘要】
1.一种等边三棱镜顶角偏差测量方法，其特征在于，该方法基于斐索型激光干涉系统，使用外角补偿法测量等边三棱镜的顶角偏差，具体包括以下步骤：步骤1，在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角；步骤2，将待测等边三棱镜放在干涉仪与角镜之间，且待测顶角正对干涉仪；由干涉图测量出经等边三棱镜待测顶角的两个侧面，再分别经角镜两个面反射回来的两支光的夹角；步骤3，根据步骤1、2的测量结果，计算待测等边三棱镜的顶角偏差。2.根据权利要求1所述的等边三棱镜顶角偏差测量方法，其特征在于，步骤1所述在干涉仪测量光路中固定一个60°的角镜，且角镜的角平分线与干涉仪出射光的光轴平行，测量自准直返回的两支光的夹角，具体如下：(1.1)调整待测组成角镜的两反射镜的姿态，使分别经两反射镜返回的光自准直回去，且两组干涉条纹数均少于设定值；(1.2)利用斐索型激光干涉仪，采集经参考镜返回的光与角镜两...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁煜，何佳竻，陈磊，孔庆庆，刘致远，杨影，马云，王冲，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32