【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】模式相关损耗测量方法和测量装置
本专利技术涉及一种模式相关损耗(下文中称作“MDL”)测量方法和一种用于测量应用于模分复用传输系统的传输介质中的MDL的MDL测量装置,并且涉及一种可应用于用于模分复用的传输介质的光纤。
技术介绍
非专利文献1公开了当在模分复用传输系统中执行多输入/多输出(下文中称作“MIMO”)处理时,在通过MIMO构造的模分复用传输期间的传输容量由于传输介质的MDL而减小,并且公开了用于从传输矩阵计算MDL的表达式。非专利文献2公开了通过MIMO处理通过利用在以上非专利文献1中公开的表达式对其中将耦合多芯光纤(下文中称作“MCF”)作为传输介质应用的模分复用传输系统的MDL进行分析的结果。耦合MCF的所分析的MDL针对各个曲线图变化,但是MDL为大约0.06dB/km1/2至0.14dB/km1/2。引文列表非专利文献非专利文献1:P.J.WinzerandG.J.Foschini,“MIMOcapacitiesandoutageprobabilitiesinspatiallymultiplexedopticaltransportsystems ...
【技术保护点】
一种用于测量光纤的模式相关损耗的模式相关损耗测量方法,所述光纤具有第一端和与第一端相对的第二端并且实现在其间发生互相串扰的N(N≥2)个空间模式中的光学传输,模式相关损耗测量方法包括以下步骤:在改变目标空间模式的同时针对所述N个空间模式中的每一个重复进行光输入操作和强度测量操作,以产生关于从第一端至第二端的光纤中的传输损耗的传输矩阵,所述光输入操作将预定强度的光从光纤的第一端输入至任意目标空间模式,所述强度测量操作包括目标空间模式在内的所述N个空间模式中的每一个中的光的强度,所述光响应于针对目标空间模式的光输入而从光纤的第二端被输出;以及将通过将构成所述传输矩阵的矩阵元素中 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.04 JP 2016-0422091.一种用于测量光纤的模式相关损耗的模式相关损耗测量方法,所述光纤具有第一端和与第一端相对的第二端并且实现在其间发生互相串扰的N(N≥2)个空间模式中的光学传输,模式相关损耗测量方法包括以下步骤:在改变目标空间模式的同时针对所述N个空间模式中的每一个重复进行光输入操作和强度测量操作,以产生关于从第一端至第二端的光纤中的传输损耗的传输矩阵,所述光输入操作将预定强度的光从光纤的第一端输入至任意目标空间模式,所述强度测量操作包括目标空间模式在内的所述N个空间模式中的每一个中的光的强度,所述光响应于针对目标空间模式的光输入而从光纤的第二端被输出;以及将通过将构成所述传输矩阵的矩阵元素中的最大值除以所述矩阵元素中的最小值而获得的比率、或者通过将所述传输矩阵的特征值或奇异值中的最大值除以所述特征值或所述奇异值中的最小值而获得的比率确定为每单位光纤长度的模式相关损耗的线性值。2.根据权利要求1所述的模式相关损耗测量方法,还包括:通过将所述线性值的常用对数乘以十来确定每单位光纤长度的模式相关损耗的分贝值。3.根据权利要求1或2所述的模式相关损耗测量方法,其中所述光输入操作包括:将强度为Pi[mW]的光从光纤长度为Li[单位光纤长度]的光纤的第一端输入至作为所述N个空间模式中的目标空间模式的第i(i=1、2、……、N)空间模式的操作,所述强度测量操作包括:测量所述N个空间模式的每一个中的光的强度的操作,其中第j(j=1、2、……、N)空间模式的光强由Pji[mW]表示,所述光响应于针对第i空间模式的光输入而从光纤的第二端被输出,并且所述方法在改变目标空间模式的同时针对所述N个空间模式中的每一个重复所述光输入操作和所述强度测量操作,以产生由下面的表达式(1)表示的关于传输损耗的传输矩阵:4.根据权利要求1或2所述的模式相关损耗测量方法,其中,所述光输入操作包括:从光纤长度为Li[单位光纤长度]的光纤的第一端将强度为Pi[mW]的光输入至作为所述N个空间模式中的目标空间模式的第i(i=1、2、……、N)空间模式的操作,所述强度测量操作包括:第一操作,测量所述N个空间模式中的每一个的光的强度,其中第j(j=1、2、……、N)空间模式的光强由Pji[mW]表示,所述光响应于针对第i空间模式的光输入而从光纤的第二端被输出;以及第二操作,制备具有第一端并且回切长度为Li'(<Li)[单位光纤长度]的回切部分,通过在留下第一端的同时距离第一端在1m至50m的位置处切割光纤来获得所述回切部分,以及测量响应于针对第i空间模式的光输入从回切部分的与第一端相对的第三端输出的第i空间模式的光强Pi'[mW],并且所述方法在改变目标空间模式的同时针对所述N个空间模式中的每一个重复所述光输入操作和所述强度测量操作,以产生由下面的表达式(2)表示的关于传输损耗的传输矩阵:5.一种光纤,其中,在1530nm至1565nm的波长范围内或者1460nm至1625nm的波长范围内,通过根据权利要求1至4中的任一项所述的模式相关损耗测量方法而测量的模式相关损耗为0.02dB/km1/2或更小,或者模式相关损耗的平均值为0.01dB/km1/2或更小。6.根据权利要求5所述的光纤,其中所述光纤是具有以下光学性...
【专利技术属性】
技术研发人员:林哲也,
申请(专利权)人:住友电气工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。