晶体振荡器测试系统技术方案

本实用新型专利技术揭示了一种晶体振荡器测试系统，其特征在于，包括有主控PC、用于测试芯片的DC参数的测试仪和用于测试芯片的频率的频率计，所述频率计型号为HP53132A，所述测试仪型号为TR‑6010，所述频率计和所述测试仪都连接所述主控PC。本实用新型专利技术的有益效果是：通过HP53132A频率计和TR‑6010测试仪的配合使用，不仅可以能满足测试晶体振荡器的精度要求，保证测试质量，而且可以降低客户测试成本，提高企业竞争力。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元器件测试
，特别涉及一种晶体振荡器测试系统。
技术介绍
晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片，简称为石英晶体或晶体、晶振，而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器，其产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装。通用晶体振荡器，用于各种电路中，产生振荡频率。一个小小的晶体振荡器，在其电路系统中，往往是很不起眼的器件。但这个器件的品质和稳定性，会决定整个系统的指标和特性。因为晶体的运用环境很广泛，在军事与宇航、科研与计算、工业、汽车和消费领域都有运用，特别是恒温晶体振荡器，简称TCXO，几乎覆盖了所有的电子产品，如手机，导航，手表等。因此测试工程师应该在测试阶段模拟产品的运用环境把好品坏品分出来，如果一颗晶体出问题，就将导致整个系统都会有问题。晶体振荡器频点很多，而且频率的精度要求很高，一般在正负几个ppm。比如要测试一个100MHZ的晶体的频率，那需要用到的采样频率最少是200MHZ了；这样的话，一般的测试仪就达不到了；还要考虑到精度，那对测试仪的要求就更高了。如果能用高端的测试仪，测试的成本必定会增加，而现在的客户都是追求低成本高品质。
技术实现思路
本技术的主要目的为提供，一种晶体振荡器测试系统，即可以保证测试质量，又能够降低客户的测试成本。本技术提出了一种晶体振荡器测试系统，其特征在于，包括有主控PC、用于测试芯片的DC参数的测试仪和用于测试芯片的频率的频率计，所述频率计型号为HP53132A，所述测试仪型号为TR-6010，所述频率计和所述测试仪都连接所述主控PC。进一步地，所述频率计通过自带的通用接口总线GPIB连接所述主控PC上的PCI插槽。进一步地，所述频率计上设置有GPIB卡，所述GPIB卡兼容IEEE488.1、IEEE488.2及PCI总线2.1规格。进一步地，所述主控PC上还连接有用于发出警报的报警装置。进一步地，所述报警装置为连接在所述主控PC的喇叭装置。进一步地，所述报警装置为连接在所述主控PC上的报警灯。本技术的有益效果是：通过HP53132A频率计和TR-6010测试仪的配合使用，不仅可以能满足测试晶体振荡器的精度要求，保证测试质量，而且可以降低客户测试成本，提高企业竞争力。附图说明图1是本技术一实施例的一种晶体振荡器测试系统的结构框图。本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。参照图1，提出本技术一实施例，一种晶体振荡器测试系统，包括有主控PC1、用于测试芯片的DC参数的测试仪3和用于测试芯片的频率的频率计2，频率计2型号为HP53132A，测试仪3型号为TR-6010，频率计2和测试仪3都连接主控PC1，主控PC1根据测试仪3TR-6010和频率计2HP53132A的检测结果来判断测试结果。频率计2通过自带的通用接口总线GPIB(General-PurposeInterfaceBus)连接到主控PC1上的PCI插槽，再由安装在主控PC1上的PCI插槽中的PCI-GPIB卡传输到主控PC1，最后由主控PC1对采集到的频率和DC信息进行分析，得出芯片是否符合要求。频率计2作为高精度的频率和时间测试仪表，测试精度高于普通的频谱仪和示波器，频率计2可以用来测试如频率、周期、相位、脉冲等，而其中频率和周期的测试占有绝大部分比例。频率计2上设置有GPIB卡，本实施例中采用了一款兼容IEEE488.1、IEEE488.2及PCI总线2.1规格的GPIB卡，产自中国台湾研华，提高了开发效率降低了生产成本，并且信息控制较灵活。另外，利用GPIB作为一种标准总线形式,使得本系统具有可扩充性。假如要在本基础上增加测向的功能，则只要加进带有GPIB接口的仪器,便可以将该系统扩展为一个功能较完备的监测系统。主控PC1上还连接有用于发出警报的报警装置4，报警装置4可以是喇叭装置或报警灯，也可以是这两者的组合，当主控PC1判断被检测芯片不通过时，即传递命令给报警装置4，报警装置4根据主控PC1的命令做出反馈，检测人员可根据报警装置4的反应了解到当前的被检测芯片是否合格。使用时，频率计2和测试仪3分别检测待测芯片，并将检测结果发送给主控PC1，主控PC1判断被测芯片是否合格，如不合格则发出相应的控制命令。本技术有益效果是：通过HP53132A频率计2和TR-6010测试仪3的配合使用，可以解决单独使用测试仪3在保证测试精度的前提下成本过高的问题，可以能满足测试晶体振荡器的精度要求，保证测试质量，而且可以降低客户测试成本，提高企业竞争力。以上所述仅为本技术的优选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体振荡器测试系统，其特征在于，包括有主控PC、用于测试芯片的DC参数的测试仪和用于测试芯片的频率的频率计，所述频率计型号为HP53132A，所述测试仪型号为TR‑6010，所述频率计和所述测试仪都连接所述主控PC。

【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器测试系统，其特征在于，包括有主控PC、用于测试芯片的DC参数的测试仪和用于测试芯片的频率的频率计，所述频率计型号为HP53132A，所述测试仪型号为TR-6010，所述频率计和所述测试仪都连接所述主控PC。2.如权利要求1所述的晶体振荡器测试系统，其特征在于，所述频率计通过自带的通用接口总线GPIB连接所述主控PC上的PCI插槽。3.如权利要求1或2所述的晶体振荡器测试系统，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘雷，
申请(专利权)人：深圳市立能威微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44