本技术公开了一种集成电路标识印刷装置，包括支撑架，所述支撑架的一侧外表面拆卸安装有四个连接组件，且四个连接组件的底面均固定连接有稳固块，所述支撑架的顶面固定设置有四个支撑柱，且四个支撑柱远离支撑架的一端固定设置有顶板，所述顶板的顶面固定...

本发明涉及芯片插针设备技术领域，提出了一种芯片针脚的插针设备，包括机架及设置在机架上的工装组件及插针组件，工装组件包括用于固定芯片位置的定位单元，插针组件包括针盘及压合焊接单元，针盘上分为穿针部和压合部，穿针部设置有多个直线排列的穿针槽...

本发明涉及芯片测试技术领域，提出了一种芯片测试机，包括机体

本发明涉及芯片分选检测设备技术领域，提出了一种芯片的检测组件，所述检测组件包括升降设置在所述机架上的检测托架及设置在所述检测托架上的检测头，所述检测头具有与待检测芯片接触的探针，还包括设置在所述检测头中心的吸附嘴及套设在所述探针上的绝缘...

本发明涉及芯片分选检测设备技术领域，提出了一种具有芯片修正组件的检测装置，包括机架及设置在机架上的检测组件、修正组件，还包括检测工位，所述检测工位位于所述检测组件的下方，所述检测工位用于放置芯片托盘，所述修正组件包括升降设置在所述机架上...

本发明涉及芯片分选技术领域，提出了一种电源芯片的分选方法及系统，分选方法包括以下步骤：芯片摆正：摆正传送带上的芯片的姿态；芯片装载：捡拾芯片，并将芯片放置在传输盘的凹槽内，直至所有的凹槽填满芯片；进入待测区：将载满芯片的传输盘传送至检测...

本发明涉及硅片打磨校验设备技术领域，提出了一种空白硅片的全面打磨校验一体机及使用方法，包括基座及设置在所述基座上的旋转工作台，所述旋转工作台上具有若干个圆周设置的硅片吸附工位，还包括设置在所述旋转工作台上方的砂轮组件，所述砂轮组件包括砂...

本发明涉及膜厚检测技术领域，提出了一种芯片的镀膜玻璃基板厚度测试设备及测试方法，包括机架设置在所述机架上的测试平台，还包括测试装置、支撑装置及校正装置，所述支撑装置升降设置在所述测试平台下方，所述校正装置设置在所述测试平台四周，所述测试...

本发明涉及芯片分选检测设备技术领域，提出了一种芯片二重式分选检测装置，包括机架及设置在机架上的检测组件，还包括检测工位，所述检测工位位于所述检测组件的下方，所述检测工位用于放置芯片托盘，所述检测组件包括升降设置在所述机架上的检测托架及设...

本发明涉及芯片测试技术领域，提出了一种桌面级小型芯片测试分选设备，包括底板、壳体、取料机构、测试组件、分选机构和控制器，底板和壳体形成容纳腔，取料机构和分选机构均设于容纳腔内，取料机构、测试组件和分选机构均电连接控制器，取料机构包括第一...

本实用新型提供IC芯片分选检测辅助装置，涉及IC芯片分选技术领域，包括台座，所述台座的顶面靠近边缘位置处固定安装有侧板，所述台座的顶面放置有托盘，所述托盘的顶面设置有IC芯片本体，所述侧板的顶面贯穿设置有长杆，所述长杆的一端固定安装有吸...

本实用新型提供一种多吸嘴芯片上料装置，涉及上料装置技术领域，包括组装架和伺服电机，组装架的内部安装有输送带，组装架的上表面固装有支撑架，支撑架的外表面固装有组合板，组合板的外表面开设有转动孔，支撑架的外表面分别固装有电机盒和小型真空机，...

本实用新型提供一种芯片多工位测试台，涉及芯片测试台技术领域，包括底盘，底盘的上表面中心位置装有电机，电机的输出端装有支座，支座的外表面装有连接杆，连接杆的顶端装有滑道，滑道的上表面装有挡板，滑道的上表面边缘位置装有支板，支板的上表面中心...

本实用新型公开了一种大屏幕的测试电路板，包括电路板、电子元件和散热板，电路板的顶部安装有电子元件，电路板的底部连接有第一导热绝缘层，第一导热绝缘层的底部连接有金属体，且金属体的底部连接有第二导热绝缘层，此LED测试电路在电路板内位于电子...

本实用新型公开了一种自动化运输机器人，包括安装平台、机械手壁、抽气泵和气动吸盘，所述安装平台的顶部安装有机械手壁，所述机械手壁远离安装平台的一端安装有转向电机，所述转向电机的输出轴端部固定有调节电机，所述调节电机的底部固定有固定轴，所述...

本实用新型公开了一种芯片引脚的校正装置，包括支撑台和支撑架，支撑台的顶部固定连接有支撑架，且支撑架的顶部中心安装有气缸，气缸的活塞杆端部穿过支撑架固定连接有滑板，支撑台顶部位于支撑架内固定连接有测试台，测试台的顶部等距开设有限位槽，且限...

本实用新型公开了一种生产管理用储物柜，包括柜体和调节板，所述柜体包括框架以及固定在框架外侧用于密封框架的密封板，所述框架的四角均固定有竖直设置的导向杆，所述框架内部设置有若干个调节板，所述调节板的四角均设有通孔，且四个导向杆分别滑动连接...

本实用新型揭示了一种电源芯片中MOSFET的测试电路，包括有被测MOSFET开关Q1和起到调制作用的PWM发生器，PWM发生器接在所述MOSFET开关Q1的G端，还包括有辅助电路，所述辅助电路包括有肖特基二极管D1、稳压二极管D2、P‑...

本实用新型揭示了一种晶体振荡器测试系统，其特征在于，包括有主控PC、用于测试芯片的DC参数的测试仪和用于测试芯片的频率的频率计，所述频率计型号为HP53132A，所述测试仪型号为TR‑6010，所述频率计和所述测试仪都连接所述主控PC。...

本实用新型揭示了一种USB接口的开短路测试机系统，包括有控制PC、IF接口板、PMU模块板、RELAY模块板、用于将所有模块板进行总线连接多插槽背板和带有填表式程序开发界面的软件写入模块，EEPROM控制PC连接IF接口板，EEPROM...