基于两幅激光干涉成像离焦干涉图的球形粒子判别方法技术

本发明专利技术公开了一种基于两幅激光干涉成像离焦干涉图的球形粒子判别系统及方法，属于光学测量技术领域。利用激光干涉成像原理用两个CCD同步工作，分别接收偏振方向和与入射光相同和垂直的粒子散射光的离焦干涉图，利用起偏器、检偏器调节散射光偏振方向与入射光偏振方向的角度，根据两幅图像的差异实现对球形粒子的判别测量，从而得出粒子是否为球形的结论。此方法应用于云粒子测量中，实施性强。

【技术实现步骤摘要】
201610356401

【技术保护点】
一种基于两幅激光干涉成像离焦干涉图的球形粒子判别方法，其特征是步骤如下：i、获取两幅激光干涉离焦条纹图，搭建激光干涉成像测量系统，用两个CCD同时接收粒子的离焦干涉图，通过在第二CCD(13)前设置检偏器(12)使得两个CCD分别接收与入射光偏振方向相同和垂直的散射光的离焦干涉像1和离焦干涉像2；ii、将两幅图像校正对准，第一CCD(11)和第二CCD(13)前用分束器将散射光分成两路，此时两个CCD上记录的离焦干涉图像成镜像关系，所以在分析图像之前需要对两幅图像进行校正对准，使得形成两幅图像的粒子位置相对应；iii、比较两幅图像，得出粒子形状，分析比较两个CCD同时记录的不同偏振方向散射光的离焦干涉条纹像，前方未设置检偏器(12)的第一CCD(11)呈现所有粒子的离焦干涉图1，而前方设置检偏器(12)的第二CCD(13)只能呈现非球形粒子的离焦干涉图2，所以干涉图像1上存在、2上消失的干涉条纹圆对应位置的粒子即为球形粒子。

【技术特征摘要】
1.一种基于两幅激光干涉成像离焦干涉图的球形粒子判别方法，其特征是步骤如下：i、获取两幅激光干涉离焦条纹图，搭建激光干涉成像测量系统，用两个CCD同时接收粒子的离焦干涉图，通过在第二CCD(13)前设置检偏器(12)使得两个CCD分别接收与入射光偏振方向相同和垂直的散射光的离焦干涉像1和离焦干涉像2；ii、将两幅图像校正对准，第一CCD(11)和第二CCD(13)前用分束器将散射光分成两路，此时两个CCD上记录的离焦干涉图像成镜像关系，所以在分析图像之前需要对两幅图像进行校正对准，使得形成两幅图像的粒子位置相对应；iii、比较两幅图像，得出粒子形状，分析比较两个CCD...

【专利技术属性】
技术研发人员：张红霞，周叶，李姣，贾大功，刘铁根，张以谟，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津;12