【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】201480070586
【技术保护点】
一种图像处理方法,其特征在于,包括:第1步骤,其获取以半导体设备为对象而测定的测定图像、及对应于所述测定图像的表示所述半导体设备的图案的第1图案图像;第2步骤,其获取表示所述半导体设备的图案的第2图案图像;第3步骤,其基于所述第1图案图像与所述第2图案图像,获取表示所述第1图案图像与所述第2图案图像的相对关系的匹配信息;及第4步骤,其通过基于所述匹配信息使所述第2图案图像与所述测定图像重叠而获取重叠图像。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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