【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及材料热物性参数
,特别涉及一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率测量装置,适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率。
技术介绍
法向光谱发射率是材料的重要热物性参数之一,表征了材料表面光谱辐射能量辐射能力。工业应用和科学研究中,辐射测温的方法得到了越发广泛的应用,为了准确的测量材料表面的温度,必须要知道被测表面发射率。此外,在武器装备研制中,评价材料隐身性能的重要指标之一便是其光谱发射率特性。材料光谱发射率是辐射测温、辐射换热分析、材料隐身性能评价的重要基础物性数据。然而,光谱发射率与材料的组分、温度、波长范围、表面状态等诸多因素复杂相关,对于特定的测量实例,已有文献中的相关光谱发射率数据并不能完全满足应用需求。国内外从事热测量科学的学者对材料法向光谱发射率的相关测量技术开展了许多研究工作。根据测试原理的不同,发射率测量方法可分为量热法、反射法、能量法等等。其中采用傅立叶光谱法进行发射率测量的研究工作较为典型,例如:1)2003年,日本Yajima等人采用分离黑体法建立了一套高温下可同时测量全光谱发射率和光学常数的测试系统,对钼和氧化锆试样在光谱范围2μm~10μm、温度范围900K~1400K条件下进行了试验;2)2004年,美国国家标准技术研究院(NIST)利用一系列的黑体辐射源建立了一种新的材料光谱发射率测量系统,测量温度范围为600K~1400K,波长范围为1μ ...
【技术保护点】
一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率测量装置,其特征在于:其包括:光谱仪(1)、高温黑体加热装置(2)、样品加热装置(3)、高温参考黑体(4)、低温参考黑体(5)、水平位移平台(6)、电控转台(7)、位移控制系统(8)、计算机(9)、光阑(10)、低温黑体加热装置(11)、离轴剖物面镜I(12)、离轴剖物面镜II(13)和离轴剖物面镜III(14);所述光谱仪(1)将接收到的光信号转变为电信号,并发送给计算机(9);所述光谱仪(1)为傅里叶变换红外光谱仪;所述高温黑体加热装置(2)固定安装在水平位移平台(6)上,其内部安装高温参考黑体(4),高温参考黑体(4)用于提供高温参考信号;所述高温黑体加热装置(2)的温度范围为50℃~800℃;所述样品加热装置(3)固定安装在水平位移平台(6)上,其内部安装待测样品(15);所述样品加热装置(3)的温度范围为50℃~800℃;所述水平位移平台(6)固定在水平面上,其功能是在位移控制系统(8)的控制下做水平运动;所述电控转台(7)固定在水平面上,电控转台(7)的轴线与水平面平行;电控转台(7)上安装离轴剖物面镜Ⅰ(12);电控转台(7)为离 ...
【技术特征摘要】
2015.12.10 CN 20151091833031.一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率测量装置,其特征在于:
其包括:光谱仪(1)、高温黑体加热装置(2)、样品加热装置(3)、高温参考黑
体(4)、低温参考黑体(5)、水平位移平台(6)、电控转台(7)、位移控制系统
(8)、计算机(9)、光阑(10)、低温黑体加热装置(11)、离轴剖物面镜I(12)、
离轴剖物面镜II(13)和离轴剖物面镜III(14);
所述光谱仪(1)将接收到的光信号转变为电信号,并发送给计算机(9);
所述光谱仪(1)为傅里叶变换红外光谱仪;
所述高温黑体加热装置(2)固定安装在水平位移平台(6)上,其内部安装
高温参考黑体(4),高温参考黑体(4)用于提供高温参考信号;所述高温黑体
加热装置(2)的温度范围为50℃~800℃;
所述样品加热装置(3)固定安装在水平位移平台(6)上,其内部安装待测
样品(15);所述样品加热装置(3)的温度范围为50℃~800℃;
所述水平位移平台(6)固定在水平面上,其功能是在位移控制系统(8)的
控制下做水平运动;
所述电控转台(7)固定在水平面上,电控转台(7)的轴线与水平面平行;
电控转台(7)上安装离轴剖物面镜Ⅰ(12);电控转台(7)为离轴剖物面镜I
(12)提供水平移动、竖直移动和旋转功能;
离轴剖物面镜Ⅰ(12)将接收到的光信号反射到离轴剖物面镜II(13);离
轴剖物面镜II(13)的反射光线经光阑(10)后,到达离轴剖物面镜III(14);
离轴剖物面镜III(14)将接收到的光信号反射到光谱仪(1);所述光阑(10)放
置在离轴剖物面镜II(13)和离轴剖物面镜III(14)之间,起到限制视场和消除
杂散光的作用;
所述低温黑体加热装置(11)固定在水平面上,并且低温黑体加热装置(11)
与高温黑体加热装置(2)相对于电控转台(7)的轴线对称;低温黑体加热装置
(11)其内部安装低温参考黑体(5),低温参考黑体(5)用于提供低温参考信
号;所述低温黑体加热装置(11)的温度范围为50℃~800℃;
所述计算机(9)分别与光谱仪(1)和位移控制系统(8)连接;计算机(9)
的作用是:①接收光谱仪(1)发送来的电信号,计算待测样品(15)的光谱发
射率;②给位移控制系统(8)提供位移控制信号;
所述位移控制系统(8)分别与计算机(9)、水平位移平台(6)和电控转台
(7)连接;位移控制系统(8)接收计算机(9)发送来的位移控制信号,控制
水平位移平台(6)和电控转台(7)运动。
2.如权利要求1所述的一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率测量
装置,其特征在于:所述光谱仪(1)为傅里叶变换红外光谱仪。
3.如权利要求1或2所述的一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率
测量装置,其特征在于:所述离轴剖物面镜I(12)、离轴剖物面镜II(13)和
离轴剖物面镜III(14)均为90°离轴抛物面镜。
4.如权利要求1或2所述的一种基于三离轴抛物面镜和双参考黑体的发射率
测量装置,其特征在于:所述发射率测量装置的工作过程为:
步骤1:将所述发射率测量装置开机并预热;
步骤2:将待测样品(15)安装在样品加热装置(3)内;计算机(9)通过
位移控制系统(8)控制水平位移平台(6)和电控转台(7)位移,使...
【专利技术属性】
技术研发人员:张术坤,董磊,孟苏,张学聪,蔡静,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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