本发明专利技术公开了一种自动校正液晶显示器闪烁的方法和装置，对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值；根据预设的闪烁参照值以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压Vcom值。本发明专利技术自动校正液晶显示器闪烁的技术，能够通过自动调节Vcom，值使闪烁最小，避免了手动调整所带来的误差，改善了液晶显示器的显示效果。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种自动校正液晶显示器闪烁的方法和装置，对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值；根据预设的闪烁参照值以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压Vcom值。本专利技术自动校正液晶显示器闪烁的技术，能够通过自动调节Vcom，值使闪烁最小，避免了手动调整所带来的误差，改善了液晶显示器的显示效果。【专利说明】一种自动校正液晶显示器闪烁的方法和装置
本专利技术涉及液晶显示器
，具体涉及一种自动校正液晶显示器闪烁的方法 和装置。
技术介绍
目前，移动终端通讯产品采用的液晶显示器主要存在的缺陷有：显示画面闪烁导 致显示效果受到影响。目前通常通过手动调整集成电路（1C)代码的方式调整闪烁，但手动 调整会产生一定误差，进而影响产品的显示品质。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种自动校正液晶显示器闪烁的方法和装 置，以避免手动调整所带来的误差，改善液晶显示器的显示效果。 为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的： -种自动校正液晶显示器闪烁的方法，该方法包括： 对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值；根据预设的闪烁参照值 以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压Vcom值。 该方法还包括：将在特定灰阶下测试采样得到的闪烁采样值进行数据存储。 如果得到的闪烁采样值是多个数据，计算出均值并作为闪烁采样值进行存储。 根据所述闪烁参照值以及所述闪烁采样值调节所述公共电压Vcom值时，将闪烁 采样值与闪烁参照值进行对比；在采样值比参照值大时，按特定步长自动调节所述公共电 压Vcom值。 在采样值小于或等于参照值时，结束测试。 所述对比以及调节操作，执行一次或多次，直至采样值小于或等于参照值。 一种自动校正液晶显示器闪烁的装置，该装置包括测试单元、数据调整单元；其 中， 所述测试单元，用于对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值； 所述数据调整单元，用于根据预设的闪烁参照值以及测试单元得到的闪烁采样 值，按特定步长自动调节代码中的公共电压Vcom值。 所述装置还包括数据存储单元，用于将在特定灰阶下测试采样所得到的闪烁采样 值进行数据存储。 如果得到的闪烁采样值是多个数据，所述数据存储单元用于将所述多个数据的均 值作为闪烁采样值进行存储。 所述装置还包括比较单元，用于将闪烁采样值与闪烁参照值进行对比； 在采样值比参照值大时，所述数据调整单元按特定步长自动调节所述公共电压 Vcom 值。 在采样值小于或等于参照值时，所述数据调整单元结束测试。 所述装置还包括设置单元，用于预设闪烁参照值。 所述装置还包括终端控制芯片，用于控制所述装置中各单元的具体工作状态。 本专利技术自动校正液晶显示器闪烁的技术，能够通过自动调节Vcom值使闪烁最小， 避免了手动调整所带来的误差，改善了液晶显示器的显示效果。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术实施例的自动校正液晶显示器闪烁的流程简图； 图2为本专利技术实施例的自动校正液晶显示器闪烁的流程图； 图3为本专利技术实施例的自动校正液晶显示器闪烁的装置图。 【具体实施方式】 在实际应用中，可以执行如图1所示的流程以自动校正液晶显示器闪烁，图1所示 流程包括以下步骤： 步骤110 :对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值； 步骤120 :根据预设的闪烁参照值以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代 码中的公共电压Vcom值。 具体而言，图1所示流程可以细化为如图2所示的流程，该流程包括以下步骤： 步骤201、设置特定灰阶下的闪烁参照值； 其中，闪烁在液晶显示器的特定灰阶下进行测试，例如灰阶30,规定在灰阶30下 的闪烁最大值为10,那么就可以将灰阶30时的闪烁参照值设为10。 步骤202、对特定灰阶下的闪烁进行测试采样； 根据步骤201中特定灰阶下的画面进行闪烁的实测，测试点的位置和数量可以根 据需要自行设定。 步骤203、将在特定灰阶下测试采样得到的闪烁采样值进行数据存储； 将步骤202中测试采样所得到的闪烁采样值进行数据存储，如果得到的闪烁采样 值是多个数据，可以计算出均值并作为闪烁采样值进行存储。 步骤204、将闪烁采样值与闪烁参照值进行对比； 将步骤203测试后得到的闪烁采样值与步骤201设置的闪烁参照值进行对比，如 果采样值小于或等于参照值，说明画面品质无问题，直接结束测试；如果采样值比参照值 大，说明闪烁状态差，需要继续校正闪烁，进入步骤205。 步骤205、按特定步长自动调节1C代码中的公共电压Vcom值。 其中，可以将Vcom值按一定的步长进行调节，例如0. 2。 之后，可以返回步骤202,以继续校正闪烁。 基于上述描述，步骤202至步骤205可能重复执行多次，直至采样值小于或等于参 照值。 可见，通过上述操作能够得到与设置的闪烁参照值相符合的闪烁采样值，因此能 够通过自动调节Vcom值使闪烁最小，避免了手动调整所带来的误差，改善了液晶显示器的 显示效果。 对应于图1、图2所述的自动校正液晶显示器闪烁的方法，提供一种自动校正液晶 显示器闪烁的设备。如图3所示，该设备包括设置单元、测试单元、数据存储单元、比较单元 和数据调整单元。其中，设置单元用于设置特定灰阶下的闪烁的参照值；测试单元用于对特 定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值；数据存储单元用于将在特定灰阶下测 试采样所得到的闪烁采样值进行数据存储；比较单元用于将闪烁采样值与闪烁参照值进行 对比；数据调整单元：用于根据比较单元的对比结果，按特定步长自动调节1C代码中的公 共电压Vcom值。 以上各单元均可通过数据线与终端控制芯片连接，由终端控制芯片6控制具体的 工作状态。 具体而言，终端控制芯片可以通过数据线与其它各单元相连接： 终端控制芯片可以通过液晶显示器总线经设置单元与液晶显示器相连，以控制输 出显示效果； 终端控制芯片可以通过通用串行总线（USB)与测试单元相连，以控制测试单元； 终端控制芯片可以通过随机存储器（RAM)总线与数据存储单元相连，以控制数据 存储单元对采样数据的存储； 终端控制芯片可以通过数据总线与比较单元相连，以控制比较单元对采样值与参 照值进行数据对比； 终端控制芯片可以通过闪存（Flash)总线与数据调整单元相连，以控制数据调整 单元对调整后的Vcom值进行存储。 在实际应用中，当对液晶显示器进行闪烁测试和调整时，可用键盘来控制终端控 制芯片。通过液晶显示器总线将终端控制芯片经设置单元与液晶显示器相连，设置好闪烁 参照值，并在液晶显示器输出画面。通过USB将测试单元连接到终端控制芯片，然后通过键 盘输入控制终端控制芯片进入到闪烁数据采样模式，终端控制芯片将控制设置单元设置闪 烁参照值，控制测试单元对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样；控制数据存储单元将在特 定灰阶下测试采样的闪烁采样值进行数据存储；控制比较单元将闪烁采样值与闪烁参照值 进行对比，并将对比结果反馈给终端控本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动校正液晶显示器闪烁的方法，其特征在于，该方法包括：对特定灰阶下的闪烁进行测试并采样，得到闪烁采样值；根据预设的闪烁参照值以及所述闪烁采样值，按特定步长自动调节代码中的公共电压Vcom值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张莹，李京鹏，任健，朱红，于洪俊，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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