电子设备冲击老化试验台制造技术

电子设备冲击老化试验台，本发明专利技术由输出1、2、3、4，时间继电器5，转换接触器6，稳压电源7，执行器8、9、10、11，程控单元12，调整13组成，输出1、2、3、4负载通过执单元8、9、10、11和程控单元12交替关断、接通220V电源。调整13可对接通、关断时间调整。可调时间继电器5可设定开关老化时间。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
本专利技术主要由时间继电器5，转换接触器6，执行器8、9、10、11，程控单元12。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周柏林，代雪梅，
申请(专利权)人：深圳市雅其光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44