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电子设备冲击老化试验台制造技术
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文档序号:10016262
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电子设备冲击老化试验台,本发明由输出1、2、3、4,时间继电器5,转换接触器6,稳压电源7,执行器8、9、10、11,程控单元12,调整13组成,输出1、2、3、4负载通过执单元8、9、10、11和程控单元12交替关断、接通220V电源。调...
该专利属于深圳市雅其光科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市雅其光科技有限公司授权不得商用。
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