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日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，涉及滤光片参数测试领域，解决现有带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题，本发明包括：一、提供衰减系数为k的衰减片；二、探测光源通过日盲紫外滤光片的输出电信号；三、根据通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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