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本发明提供了一种芯片测试系统及芯片测试方法，其中，所述芯片测试系统包括：测试机、晶振及信号分析系统，所述测试机及晶振均与所述信号分析系统连接；所述测试机用以提供测试信号；所述晶振用以提供时钟信号；所述信号分析系统用以获取测试机输出测试信号的...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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