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提供一种可更高精度获得测定对象的断层信息的光学层析成像装置（1）。根据光学层析成像装置（1），受光光纤（12）、（13）的数值孔径彼此不同。因而，通过构成为分别在受光光纤（12）、（13）中接收两种立体角分布不同的光，从而除了从测定对象（1...该专利属于住友电气工业株式会社;国立大学法人京都大学所有，仅供学习研究参考，未经过住友电气工业株式会社;国立大学法人京都大学授权不得商用。