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本发明公开了一种测量仪器的夹持方法，用于夹持测试仪器的杆状探头，包括将杆状探头直接卡合在夹持架的卡槽上，所述夹持架包括相对间隔设置的两卡板和一底板，所述两卡板的底部通过所述底板连接，所述两卡板的上部对应设有一用于卡住所述杆状探头的所述卡槽，...
该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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