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用于进行功能和结构测试和调试的基于功能结构测试控制器制造技术
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下载用于进行功能和结构测试和调试的基于功能结构测试控制器的技术资料
文档序号:9384711
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用于促进测试集成在系统芯片(SoC)上的IP块的测试访问机构(TAM)架构。TAM架构包括集成在SoC上IP块附近的测试控制器和一个或多个测试包装器。由测试控制器封装对应于来自外部测试器的输入的测试数据和命令,并通过互连结构发送到测试包装器...
该专利属于英特尔公司所有,仅供学习研究参考,未经过英特尔公司授权不得商用。
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