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反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置属于超精密三维微细结构表面形貌测量领域，主要涉及一种反斯托克司性质荧光随动针孔微结构角谱扫描测量装置；该装置设置有角谱扫描照明光路和荧光随动针孔探测光路，并采用反斯托克司性质荧光物质；这种设计...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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