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一种C形臂X光锥测定装置，包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。采用本发明的C形臂X光锥测定装置对C形臂X光锥进行测定，根据测定结果再配...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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