C形臂X光锥测定装置制造方法及图纸

技术编号:9294639 阅读:139 留言:0更新日期:2013-10-30 23:35
一种C形臂X光锥测定装置,包括上层测定板和下层测定板,上层测定板和下层测定板平行间隔相连,在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球,在上层测定板上设有多个第三钢球。采用本发明专利技术的C形臂X光锥测定装置对C形臂X光锥进行测定,根据测定结果再配合计算即可得出在不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种C形臂X光锥测定装置,其特征在于:包括上层测定板和下层测定板,上层测定板和下层测定板平行间隔相连,在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球,在上层测定板上设有多个第三钢球。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:闫士举
申请(专利权)人:上海理工大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1