温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统，将两路干涉光强信号直接相除，所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲，通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小，光程差改变一个波长时，计数器计数2次。对...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。