基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统技术方案

本发明专利技术提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统，将两路干涉光强信号直接相除，所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲，通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小，光程差改变一个波长时，计数器计数2次。对应的位移传感器解调系统包括激光器、光纤隔离器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第三光纤耦合器、传感单元、光电探测器、前置放大单元、DSP信号处理模块与外设显示单元。本发明专利技术具有以下有益效果：省去传感器类型标定、运算和判向过程，降低解调算法复杂度；比值条纹计数法的理论精度是一般条纹计数法的2倍；先天抗干扰，通过DSP信号处理模块实现测量仪器小型。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
基于双F?P干涉仪的比值条纹计数法，其特征在于，包括以下步骤：1）激光器发出的激光经光纤隔离器、光纤耦合器被分为光强相近的两束光，两束光分别经过A、B两路单模光纤后通过传感单元入射到被测物体表面；2）A、B两路单模光纤端面的反射光分别和被测物体表面的反射光产生干涉，输出的两路干涉光强信号经过光电探测器接收，转换成电流信号；3）步骤2）获得的两路电流信号经前置放大单元放大后经DSP信号处理模块的A/D模数转换器采样后转换为数字信号，数字信号经滤除低频噪声后通过运算和计数获得解调结果；i）具体运算算法步骤如下：A、B两路单模光纤接收到的干涉光强信号IA、IB分别表示为IA=IA0cos(φ(t))...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黎敏，舒卓，徐春晖，
申请(专利权)人：武汉理工大学，
类型：发明
国别省市：