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本发明公开了一种半导体测试探针清洗装置及方法，该装置包括第一液体容器，所述第一液体容器具有第一容器开口和第一容器底部，从所述第一容器底部至第一容器开口所述第一液体容器的横截面逐渐收窄。本发明中折弯型的半导体测试探针更容易伸入第一液体容器中完...
该专利属于深圳市矽电半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市矽电半导体设备有限公司授权不得商用。

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