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高集成半导体存储器件及其制造方法技术
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文档序号:9172264
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本发明公开了一种半导体存储器件及其制造方法,半导体存储器件包括:半导体衬底;有源区,所述有源区包括多个单位有源区,且被设置在半导体衬底之上以及与半导体衬底间隔开;字线对,所述字线对被形成在单位有源区的上表面和侧面上;虚设字线,所述虚设字线被...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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