温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本公开内容涉及用于减少拐角圆化的具有光学邻近度校正的切分拆分,其中,提供一种集成电路(IC)方法的一个实施例。该方法包括:接收具有主要特征的IC设计布局,主要特征包括两个拐角和跨越于两个拐角之间的边;对边执行特征调节;对边执行切分,从而将边...该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本公开内容涉及用于减少拐角圆化的具有光学邻近度校正的切分拆分,其中,提供一种集成电路(IC)方法的一个实施例。该方法包括:接收具有主要特征的IC设计布局,主要特征包括两个拐角和跨越于两个拐角之间的边;对边执行特征调节;对边执行切分,从而将边...