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一种基于块的NANDFLASH坏区动态标记处理方法，先对NANDFLASH芯片进行检测，之后进行正常读写使用。本发明以块而不是以页为单位来标记各个块的有效信息，这样系统不必在对闪存的每一页进行操作前都去读取标记值，而只需在对新的块进行操作前...该专利属于北京航天自动控制研究所;中国运载火箭技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过北京航天自动控制研究所;中国运载火箭技术研究院授权不得商用。