温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

提供一种自动分析装置，其不会导致装置的大型化以及复杂化，能够对由装置内部的温度变动引起的光学系统的热变形所导致的光量数据的变动进行修正，能够实现测定对象物质的高灵敏度的检测。来自测定对象物质的散射光通过受光窗(43)，由以光轴为中心而在垂直...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。