自动分析装置制造方法及图纸

提供一种自动分析装置，其不会导致装置的大型化以及复杂化，能够对由装置内部的温度变动引起的光学系统的热变形所导致的光量数据的变动进行修正，能够实现测定对象物质的高灵敏度的检测。来自测定对象物质的散射光通过受光窗(43)，由以光轴为中心而在垂直方向上等角度或等间隔地对称配置的+θ散射光用探测器(45a)以及-θ散射光用探测器(45b)受光。光源(40)由光源支架(配置光源的基座部件)(46)固定，探测器(45a、45b)配置固定在探测器支架(配置各探测器的基座部件)(47)上。由此，通过比较来自各探测器(45a、45b)的光量数据的值，能够修正光学系统的热变形引起的光量数据的偏移。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：牧野彰久，足立作一郎，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：
国别省市：