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本实用新型提供一种测试基座及测试设备，所述测试基座包括基座本体、测试夹具及多个测试探针。所述测试夹具是可拆卸地设置于所述基座本体上，以固定待测物。所述多个测试探针设置于所述基座本体内，当进行所述待测物的测试时，所述测试探针是通过所述测试夹具...
该专利属于苏州日月新半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州日月新半导体有限公司授权不得商用。

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