下载氮氧化硅膜及其形成方法以及半导体器件的技术资料

文档序号:8688067

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本发明提供一种不含氢及游离氟,从而膜特性良好的绝缘性膜。本发明的氮氧化硅膜包含硅、氮、氧及氟而成,氮N、氧O及氟F的合计(N+O+F)相对于硅Si的元素比率(N+O+F)/Si处于1.93~1.48的范围内,且该膜中的硅的元素比率处于0.3...
该专利属于日新电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过日新电机株式会社授权不得商用。

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